Influence of radiation-induced defects on the overheating of a metal target; 6th International Congress on Energy Fluxes and Radiation Effects; 20th International Symposium on High-Current Electronics (20SHCE), Tomsk, September 16-22

Detalhes bibliográficos
Parent link:6th International Congress on Energy Fluxes and Radiation Effects: abstracts, Tomsk, September 16-22, 2018
20th International Symposium on High-Current Electronics (20SHCE), Tomsk, September 16-22.— 2018.— [P. 42]
Corporate Authors: Национальный исследовательский Томский политехнический университет Инженерная школа новых производственных технологий Отделение материаловедения, Национальный исследовательский Томский политехнический университет Школа базовой инженерной подготовки Отделение иностранных языков
Outros Autores: Egorova Yu. I. Yulia Ivanovna, Prima A. I. Artem Igorevich, Zhu X. P., Ding L., Zhang Q., Pushkarev A. I. Aleksandr Ivanovich, Lei M. K. Ming Kai
Resumo:Title screen
Idioma:inglês
Publicado em: 2018
Assuntos:
Acesso em linha:http://efre2018.hcei.tsc.ru/publication/abstract.html
Formato: Recurso Electrónico Capítulo de Livro
KOHA link:https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=660565

Registos relacionados