Influence of radiation-induced defects on the overheating of a metal target; 6th International Congress on Energy Fluxes and Radiation Effects; 20th International Symposium on High-Current Electronics (20SHCE), Tomsk, September 16-22
| Parent link: | 6th International Congress on Energy Fluxes and Radiation Effects: abstracts, Tomsk, September 16-22, 2018 20th International Symposium on High-Current Electronics (20SHCE), Tomsk, September 16-22.— 2018.— [P. 42] |
|---|---|
| Համատեղ հեղինակներ: | , |
| Այլ հեղինակներ: | , , , , , , |
| Ամփոփում: | Title screen |
| Լեզու: | անգլերեն |
| Հրապարակվել է: |
2018
|
| Խորագրեր: | |
| Առցանց հասանելիություն: | http://efre2018.hcei.tsc.ru/publication/abstract.html |
| Ձևաչափ: | Էլեկտրոնային Գրքի գլուխ |
| KOHA link: | https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=660565 |
| Ամփոփում: | Title screen |
|---|