Анализ природных алмазов методом резерфордовского обратного рассеяния
| Parent link: | Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования № 8.— 2019.— [С. 78-81] |
|---|---|
| Corporate Authors: | , |
| מחברים אחרים: | , , , |
| סיכום: | Заглавие с экрана Методом резерфордовского обратного рассеяния ионов 4He определено содержание примесей в поверхностной области природных алмазных кристаллов. Для уменьшения влияния люминесценции от поверхности алмазов, рассеянные ионы регистрировались кольцевым детектором. Использование в качестве регистрирующего устройства кольцевого детектора позволило уменьшить статистическую погрешность и повысить точность измерений, при этом предел обнаружения примесей составил 1014 ат./см2 для легких и 1012 ат./см2 для тяжелых примесей. The paper studies the possibility of using Rutherford backscattering (RBS) in the quantitative determination of the impurity content in the near-surface region of natural diamond crystals. The annular detector is shown to be optimal and reliable for the analysis of dielectric samples and can be used for analyzes that do not require very high energy resolution of the spectrometric path. The experiments are performed using an electrostatic accelerator EG-2 with the energy of accelerated 4He ions of 1860 keV. The annular detector developed and manufactured by us as a recording device with an operating area of 450 mm2 reduces the statistical error and improves the accuracy of measurements. The detection limit of impurities changed by more than an order of magnitude and was 1014 at./cm2 for light and 1012 at./cm2 for heavy impurities in the experiment with the annular detector. Режим доступа: по договору с организацией-держателем ресурса |
| שפה: | רוסית |
| יצא לאור: |
2019
|
| נושאים: | |
| גישה מקוונת: | https://elibrary.ru/item.asp?id=38255148 |
| פורמט: | אלקטרוני Book Chapter |
| KOHA link: | https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=660562 |
MARC
| LEADER | 00000naa0a2200000 4500 | ||
|---|---|---|---|
| 001 | 660562 | ||
| 005 | 20250404103429.0 | ||
| 035 | |a (RuTPU)RU\TPU\network\30077 | ||
| 090 | |a 660562 | ||
| 100 | |a 20190801d2019 k||y0rusy50 ca | ||
| 101 | 0 | |a rus | |
| 102 | |a RU | ||
| 135 | |a drcn ---uucaa | ||
| 181 | 0 | |a i | |
| 182 | 0 | |a b | |
| 200 | 1 | |a Анализ природных алмазов методом резерфордовского обратного рассеяния |d Analysis of Natural Diamonds by Rutherford Backscattering |f В. В. Сохорева, В. М. Малютин, Е. Б. Кашкаров, С. И. Кузнецов | |
| 203 | |a Текст |c электронный | ||
| 300 | |a Заглавие с экрана | ||
| 320 | |a [Библиогр.: 13 назв.] | ||
| 330 | |a Методом резерфордовского обратного рассеяния ионов 4He определено содержание примесей в поверхностной области природных алмазных кристаллов. Для уменьшения влияния люминесценции от поверхности алмазов, рассеянные ионы регистрировались кольцевым детектором. Использование в качестве регистрирующего устройства кольцевого детектора позволило уменьшить статистическую погрешность и повысить точность измерений, при этом предел обнаружения примесей составил 1014 ат./см2 для легких и 1012 ат./см2 для тяжелых примесей. | ||
| 330 | |a The paper studies the possibility of using Rutherford backscattering (RBS) in the quantitative determination of the impurity content in the near-surface region of natural diamond crystals. The annular detector is shown to be optimal and reliable for the analysis of dielectric samples and can be used for analyzes that do not require very high energy resolution of the spectrometric path. The experiments are performed using an electrostatic accelerator EG-2 with the energy of accelerated 4He ions of 1860 keV. The annular detector developed and manufactured by us as a recording device with an operating area of 450 mm2 reduces the statistical error and improves the accuracy of measurements. The detection limit of impurities changed by more than an order of magnitude and was 1014 at./cm2 for light and 1012 at./cm2 for heavy impurities in the experiment with the annular detector. | ||
| 333 | |a Режим доступа: по договору с организацией-держателем ресурса | ||
| 461 | |t Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования | ||
| 463 | |t № 8 |v [С. 78-81] |d 2019 | ||
| 510 | 1 | |a Analysis of Natural Diamonds by Rutherford Backscattering |z eng | |
| 610 | 1 | |a труды учёных ТПУ | |
| 610 | 1 | |a электронный ресурс | |
| 610 | 1 | |a поверхности | |
| 610 | 1 | |a примеси | |
| 610 | 1 | |a алмазы | |
| 610 | 1 | |a энергетическое разрешение | |
| 610 | 1 | |a детекторы | |
| 610 | 1 | |a ускорители | |
| 610 | 1 | |a ионы гелия | |
| 701 | 1 | |a Сохорева |b В. В. |c физик |c старший научный сотрудник Томского политехнического университета |f 1944- |g Валентина Викторовна |3 (RuTPU)RU\TPU\pers\28149 |9 13107 | |
| 701 | 1 | |a Малютин |b В. М. |c физик |c старший преподаватель Томского политехнического университета |f 1961- |g Василий Михайлович |3 (RuTPU)RU\TPU\pers\30227 |9 14607 | |
| 701 | 1 | |a Кашкаров |b Е. Б. |c физик |c доцент, научный сотрудник Томского политехнического университета, кандидат физико-математических наук |f 1991- |g Егор Борисович |3 (RuTPU)RU\TPU\pers\30728 |9 14999 | |
| 701 | 1 | |a Кузнецов |b С. И. |c физик |c доцент Томского политехнического университета, кандидат технических наук |f 1952- |g Сергей Иванович |3 (RuTPU)RU\TPU\pers\27957 | |
| 712 | 0 | 2 | |a Национальный исследовательский Томский политехнический университет |b Инженерная школа ядерных технологий |b Отделение экспериментальной физики |3 (RuTPU)RU\TPU\col\23549 |
| 712 | 0 | 2 | |a Национальный исследовательский Томский политехнический университет |b Школа базовой инженерной подготовки |b Отделение естественных наук |3 (RuTPU)RU\TPU\col\23562 |
| 801 | 2 | |a RU |b 63413507 |c 20211116 |g RCR | |
| 856 | 4 | 0 | |u https://elibrary.ru/item.asp?id=38255148 |
| 942 | |c CF | ||