Анализ природных алмазов методом резерфордовского обратного рассеяния
| Parent link: | Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования № 8.— 2019.— [С. 78-81] |
|---|---|
| Corporate Authors: | , |
| Other Authors: | , , , |
| Summary: | Заглавие с экрана Методом резерфордовского обратного рассеяния ионов 4He определено содержание примесей в поверхностной области природных алмазных кристаллов. Для уменьшения влияния люминесценции от поверхности алмазов, рассеянные ионы регистрировались кольцевым детектором. Использование в качестве регистрирующего устройства кольцевого детектора позволило уменьшить статистическую погрешность и повысить точность измерений, при этом предел обнаружения примесей составил 1014 ат./см2 для легких и 1012 ат./см2 для тяжелых примесей. The paper studies the possibility of using Rutherford backscattering (RBS) in the quantitative determination of the impurity content in the near-surface region of natural diamond crystals. The annular detector is shown to be optimal and reliable for the analysis of dielectric samples and can be used for analyzes that do not require very high energy resolution of the spectrometric path. The experiments are performed using an electrostatic accelerator EG-2 with the energy of accelerated 4He ions of 1860 keV. The annular detector developed and manufactured by us as a recording device with an operating area of 450 mm2 reduces the statistical error and improves the accuracy of measurements. The detection limit of impurities changed by more than an order of magnitude and was 1014 at./cm2 for light and 1012 at./cm2 for heavy impurities in the experiment with the annular detector. Режим доступа: по договору с организацией-держателем ресурса |
| Language: | Russian |
| Published: |
2019
|
| Subjects: | |
| Online Access: | https://elibrary.ru/item.asp?id=38255148 |
| Format: | Electronic Book Chapter |
| KOHA link: | https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=660562 |