Национальный исследовательский Томский политехнический университет Инженерная школа ядерных технологий Отделение экспериментальной физики, Национальный исследовательский Томский политехнический университет Школа базовой инженерной подготовки Отделение естественных наук, Сохорева В. В. Валентина Викторовна, Малютин В. М. Василий Михайлович, Кашкаров Е. Б. Егор Борисович, & Кузнецов С. И. Сергей Иванович. (2019). Анализ природных алмазов методом резерфордовского обратного рассеяния; Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования; № 8. 2019.
Chicago Style (17th ed.) CitationНациональный исследовательский Томский политехнический университет Инженерная школа ядерных технологий Отделение экспериментальной физики, Национальный исследовательский Томский политехнический университет Школа базовой инженерной подготовки Отделение естественных наук, Сохорева В. В. Валентина Викторовна, Малютин В. М. Василий Михайлович, Кашкаров Е. Б. Егор Борисович, and Кузнецов С. И. Сергей Иванович. Анализ природных алмазов методом резерфордовского обратного рассеяния; Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования; № 8. 2019, 2019.
MLA (9th ed.) CitationНациональный исследовательский Томский политехнический университет Инженерная школа ядерных технологий Отделение экспериментальной физики, et al. Анализ природных алмазов методом резерфордовского обратного рассеяния; Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования; № 8. 2019, 2019.