Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ), Kim A. A., Alekseenko V. M. Vitaly Mikhaylovich, Kondratiev S. S., & Sinebrukhov V. A. (2018). Statistical Regularity in LTD Technology; 20th International Symposium on High-Current Electronics (ISHCE). 2018. https://doi.org/10.1109/ISHCE.2018.8521228
Chicago Style (17th ed.) CitationНациональный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ), Kim A. A., Alekseenko V. M. Vitaly Mikhaylovich, Kondratiev S. S., and Sinebrukhov V. A. Statistical Regularity in LTD Technology; 20th International Symposium on High-Current Electronics (ISHCE). 2018, 2018. https://doi.org/10.1109/ISHCE.2018.8521228.
MLA (9th ed.) CitationНациональный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ), et al. Statistical Regularity in LTD Technology; 20th International Symposium on High-Current Electronics (ISHCE). 2018, 2018. https://doi.org/10.1109/ISHCE.2018.8521228.