Метрологическое обеспечение нанотехнологий и продукции наноиндустрии, учебное пособие

Bibliographic Details
Other Authors: Анашина О. Д. (340), Андрюшечкин О. Д., Аневский С. И. Сергей Иосифович, Бражников В. В., Ильин А. П. Александр Петрович, Коршунов А. В. Андрей Владимирович, Толбанова Л. О. Людмила Олеговна, Крутиков В. Н.
Summary:Заглавие с экрана
Освещаются методы и средства метрологического обеспечения нанотехнологий и аналитического контроля наноматериалов. Рассмотрены меры по обеспечению единства измерений в Российской Федерации, ведущие тенденции развития нанотехнологий за рубежом и в России, обосновано формирование инфраструктуры центра метрологического обеспечения и оценки соответствия нанотехнологий и продукции наноиндустрии. Описаны методы и средства метрологического обеспечения исследований нанотехнологий и оценки соответствия продукции наноиндустрии. Раскрыты прикладные вопросы метрологического обеспечения реализованных проектов в отдельных областях наноиндустрии в рамках Федеральной целевой программы "Развитие инфраструктуры наноиндустрии в Российской Федерации на 2008—2011 годы". Для специалистов центров стандартизации и метрологии, метрологических служб предприятий, поверителей, сотрудников санитарно-эпидемиологической службы, проходящих переподготовку и приобретающих дополнительную квалификацию в Академии стандартизации, метрологии и сертификации Госстандарта. Будет полезна студентам вузов, получающим образование в области нанотехнологий и нанометрологии.
Режим доступа: по договору с организацией-держателем ресурса
Published: Москва, Логос, 2011
Subjects:
Online Access:https://elibrary.ru/item.asp?id=24232038
Format: Electronic Book
KOHA link:https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=658719