Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ) Институт физики высоких технологий (ИФВТ) Кафедра физики высоких технологий в машиностроении (ФВТМ), Psakhie S. G. Sergey Grigorievich, Lotkov A. I., Meisner S. N., Meisner L. L., Sergeev V. P. Viktor Petrovich, & Sungatulin A. R. (2013). Effect of surface modification by silicon ion beam on microstructure and chemical composition of near-surface layers of titanium nickelide. 2013. https://doi.org/10.1134/S2075113313050134
Chicago Style (17th ed.) CitationНациональный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ) Институт физики высоких технологий (ИФВТ) Кафедра физики высоких технологий в машиностроении (ФВТМ), Psakhie S. G. Sergey Grigorievich, Lotkov A. I., Meisner S. N., Meisner L. L., Sergeev V. P. Viktor Petrovich, and Sungatulin A. R. Effect of Surface Modification by Silicon Ion Beam on Microstructure and Chemical Composition of Near-surface Layers of Titanium Nickelide. 2013, 2013. https://doi.org/10.1134/S2075113313050134.
MLA (9th ed.) CitationНациональный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ) Институт физики высоких технологий (ИФВТ) Кафедра физики высоких технологий в машиностроении (ФВТМ), et al. Effect of Surface Modification by Silicon Ion Beam on Microstructure and Chemical Composition of Near-surface Layers of Titanium Nickelide. 2013, 2013. https://doi.org/10.1134/S2075113313050134.