Properties of thin films of tungsten sulfide and copper sulfide produced by magnetron sputtering method; Inorganic Materials: Applied Research; Vol. 8, iss. 1

Bibliographic Details
Parent link:Inorganic Materials: Applied Research.— , 2010-
Vol. 8, iss. 1.— 2017.— [P. 166-171]
Main Author: An V. V. Vladimir Vilorievich
Corporate Authors: Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ) Институт физики высоких технологий (ИФВТ) Кафедра общей химии и химической технологии (ОХХТ), Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ) Институт физики высоких технологий (ИФВТ) Кафедра технологии силикатов и наноматериалов (ТСН)
Other Authors: Pogrebenkov V. M. Valery Matveevich, Zakharov A. N. Aleksandr Nikolaevich
Summary:Title screen
This article describes investigations into the properties of thin films of tungsten sulfide and copper sulfide produced by magnetron sputtering on glass substrates in argon atmosphere. Transmittance spectra of the obtained films are studied by spectrophotometry in the range from 300 to 900 nm; the band gaps are determined. The thickness of the obtained films varies in the range of 0.5-1 μm.
Режим доступа: по договору с организацией-держателем ресурса
Language:English
Published: 2017
Subjects:
Online Access:http://dx.doi.org/10.1134/S207511331701004X
Format: Electronic Book Chapter
KOHA link:https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=654140

MARC

LEADER 00000naa0a2200000 4500
001 654140
005 20250310164131.0
035 |a (RuTPU)RU\TPU\network\19667 
090 |a 654140 
100 |a 20170413d2017 k||y0rusy50 ba 
101 0 |a eng 
102 |a US 
135 |a drcn ---uucaa 
181 0 |a i  
182 0 |a b 
200 1 |a Properties of thin films of tungsten sulfide and copper sulfide produced by magnetron sputtering method  |f V. V. An, V. M. Pogrebenkov, A. N. Zakharov 
203 |a Text  |c electronic 
300 |a Title screen 
320 |a [References: 9 tit.] 
330 |a This article describes investigations into the properties of thin films of tungsten sulfide and copper sulfide produced by magnetron sputtering on glass substrates in argon atmosphere. Transmittance spectra of the obtained films are studied by spectrophotometry in the range from 300 to 900 nm; the band gaps are determined. The thickness of the obtained films varies in the range of 0.5-1 μm. 
333 |a Режим доступа: по договору с организацией-держателем ресурса 
461 |t Inorganic Materials: Applied Research  |d 2010- 
463 |t Vol. 8, iss. 1  |v [P. 166-171]  |d 2017 
610 1 |a электронный ресурс 
610 1 |a труды учёных ТПУ 
610 1 |a тонкопленочные изделия 
610 1 |a наноструктуризация 
610 1 |a мишени 
610 1 |a вольфрам 
610 1 |a сульфид меди 
700 1 |a An  |b V. V.  |c chemist  |c Professor of Tomsk Polytechnic University, Doctor of Chemical Sciences  |f 1972-  |g Vladimir Vilorievich  |3 (RuTPU)RU\TPU\pers\33866  |9 17455 
701 1 |a Pogrebenkov  |b V. M.  |c Chemical Engineer  |c Professor of Tomsk Polytechnic University, Doctor of technical sciences  |f 1954-  |g Valery Matveevich  |3 (RuTPU)RU\TPU\pers\31924 
701 1 |a Zakharov  |b A. N.  |g Aleksandr Nikolaevich 
712 0 2 |a Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ)  |b Институт физики высоких технологий (ИФВТ)  |b Кафедра общей химии и химической технологии (ОХХТ)  |3 (RuTPU)RU\TPU\col\21253 
712 0 2 |a Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ)  |b Институт физики высоких технологий (ИФВТ)  |b Кафедра технологии силикатов и наноматериалов (ТСН)  |3 (RuTPU)RU\TPU\col\18694 
801 2 |a RU  |b 63413507  |c 20170413  |g RCR 
856 4 |u http://dx.doi.org/10.1134/S207511331701004X 
942 |c CF