Кластерный анализ процессов в полупроводниковом производстве; Динамика систем, механизмов и машин; Т. 2, № 1

Detalhes bibliográficos
Parent link:Динамика систем, механизмов и машин.— , 1995-
Т. 2, № 1.— 2016.— [С. 178-181]
Autor principal: Ершов И. А. Иван Анатольевич
Autor Corporativo: Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ) Институт кибернетики (ИК)
Outros Autores: Воскобойникова О. Б. Ольга Борисовна, Стукач О. В. Олег Владимирович
Resumo:Заглавие с экрана
В статье обсуждается проблема моделирования процессов в электронной промышленности как целостной системы. Дается простая методика применения кластерного анализа процессов в полупроводниковом производстве. Приводятся результаты математического моделирования реальных данных с предприятия полупроводниковой индустрии Томска. В качестве независимой переменной выступает процент выхода годных изделий, остальные переменные представляют собой технологические параметры и результаты промежуточного контроля на всем протяжении технологического маршрута. Дается алгоритм выявления групп переменных, значимо влияющих на выход годных изделий, и исключения незначимых переменных для построения прогноза. Результаты имеют практическое значение для решения проблемы анализа больших объемов данных в производстве полупроводниковых приборов.
Режим доступа: по договору с организацией-держателем ресурса
Idioma:russo
Publicado em: 2016
Colecção:Инфокоммуникационные технологии
Assuntos:
Acesso em linha:http://elibrary.ru/item.asp?id=27410992
Formato: Recurso Electrónico Capítulo de Livro
KOHA link:https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=653432

MARC

LEADER 00000naa0a2200000 4500
001 653432
005 20250227121319.0
035 |a (RuTPU)RU\TPU\network\18873 
090 |a 653432 
100 |a 20170302d2016 k||y0rusy50 ca 
101 0 |a rus 
102 |a RU 
135 |a drcn ---uucaa 
181 0 |a i  
182 0 |a b 
200 1 |a Кластерный анализ процессов в полупроводниковом производстве  |f И. А. Ершов, О. Б. Воскобойникова, О. В. Стукач 
203 |a Текст  |c электронный 
225 1 |a Инфокоммуникационные технологии 
300 |a Заглавие с экрана 
320 |a [Библиогр.: 3 назв.] 
330 |a В статье обсуждается проблема моделирования процессов в электронной промышленности как целостной системы. Дается простая методика применения кластерного анализа процессов в полупроводниковом производстве. Приводятся результаты математического моделирования реальных данных с предприятия полупроводниковой индустрии Томска. В качестве независимой переменной выступает процент выхода годных изделий, остальные переменные представляют собой технологические параметры и результаты промежуточного контроля на всем протяжении технологического маршрута. Дается алгоритм выявления групп переменных, значимо влияющих на выход годных изделий, и исключения незначимых переменных для построения прогноза. Результаты имеют практическое значение для решения проблемы анализа больших объемов данных в производстве полупроводниковых приборов. 
333 |a Режим доступа: по договору с организацией-держателем ресурса 
461 |t Динамика систем, механизмов и машин  |d 1995- 
463 |t Т. 2, № 1  |v [С. 178-181]  |d 2016 
610 1 |a электронный ресурс 
610 1 |a труды учёных ТПУ 
610 1 |a контроль качества 
610 1 |a производство 
610 1 |a полупроводники 
610 1 |a интегральные микросхемы 
610 1 |a производительность 
700 1 |a Ершов  |b И. А.  |g Иван Анатольевич 
701 1 |a Воскобойникова  |b О. Б.  |c специалист в области информатики и вычислительной техники  |c старший преподаватель Томского политехнического университета  |f 1990-  |g Ольга Борисовна  |3 (RuTPU)RU\TPU\pers\36380  |9 19451 
701 1 |a Стукач  |b О. В.  |c специалист в области информатики и вычислительной техники  |c профессор Томского политехнического университета, доктор технических наук  |f 1966-  |g Олег Владимирович  |3 (RuTPU)RU\TPU\pers\28991 
712 0 2 |a Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ)  |b Институт кибернетики (ИК)  |3 (RuTPU)RU\TPU\col\18397 
801 2 |a RU  |b 63413507  |c 20170302  |g RCR 
856 4 |u http://elibrary.ru/item.asp?id=27410992 
942 |c CF