Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ) Физико-технический институт (ФТИ) Кафедра общей физики (ОФ), Kuznetsov P. V. Pavel Viktorovich, Lider A. M. Andrey Markovich, Bordulev Yu. S. Yuri Sergeevich, Laptev R. S. Roman Sergeevich, Mironov Yu. P. Yuriy, . . . Korznikov A. V. Alexandr. (2016). Positron Annihilation Spectroscopy of Vacancy Type Defects in Submicrocrystalline Copper under Annealing; AIP Conference Proceedings; Vol. 1783: Advanced Materials with Hierarchical Structure for New Technologies and Reliable Structures 2016. 2016. https://doi.org/10.1063/1.4966419
Цитирование в стиле Чикаго (17-е изд.)Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ) Физико-технический институт (ФТИ) Кафедра общей физики (ОФ), Kuznetsov P. V. Pavel Viktorovich, Lider A. M. Andrey Markovich, Bordulev Yu. S. Yuri Sergeevich, Laptev R. S. Roman Sergeevich, Mironov Yu. P. Yuriy, Rakhmatulina T. V. Tanzilya, и Korznikov A. V. Alexandr. Positron Annihilation Spectroscopy of Vacancy Type Defects in Submicrocrystalline Copper Under Annealing; AIP Conference Proceedings; Vol. 1783: Advanced Materials with Hierarchical Structure for New Technologies and Reliable Structures 2016. 2016, 2016. https://doi.org/10.1063/1.4966419.
Цитирование MLA (9-е изд.)Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ) Физико-технический институт (ФТИ) Кафедра общей физики (ОФ), et al. Positron Annihilation Spectroscopy of Vacancy Type Defects in Submicrocrystalline Copper Under Annealing; AIP Conference Proceedings; Vol. 1783: Advanced Materials with Hierarchical Structure for New Technologies and Reliable Structures 2016. 2016, 2016. https://doi.org/10.1063/1.4966419.