Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ) Физико-технический институт (ФТИ) Кафедра общей физики (ОФ), Kuznetsov P. V. Pavel Viktorovich, Lider A. M. Andrey Markovich, Bordulev Yu. S. Yuri Sergeevich, Laptev R. S. Roman Sergeevich, Mironov Yu. P. Yuriy, . . . Korznikov A. V. Alexandr. (2016). Positron Annihilation Spectroscopy of Vacancy Type Defects in Submicrocrystalline Copper under Annealing; AIP Conference Proceedings; Vol. 1783: Advanced Materials with Hierarchical Structure for New Technologies and Reliable Structures 2016. 2016. https://doi.org/10.1063/1.4966419
Chicago Style (17th ed.) CitationНациональный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ) Физико-технический институт (ФТИ) Кафедра общей физики (ОФ), Kuznetsov P. V. Pavel Viktorovich, Lider A. M. Andrey Markovich, Bordulev Yu. S. Yuri Sergeevich, Laptev R. S. Roman Sergeevich, Mironov Yu. P. Yuriy, Rakhmatulina T. V. Tanzilya, and Korznikov A. V. Alexandr. Positron Annihilation Spectroscopy of Vacancy Type Defects in Submicrocrystalline Copper Under Annealing; AIP Conference Proceedings; Vol. 1783: Advanced Materials with Hierarchical Structure for New Technologies and Reliable Structures 2016. 2016, 2016. https://doi.org/10.1063/1.4966419.
MLA (9th ed.) CitationНациональный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ) Физико-технический институт (ФТИ) Кафедра общей физики (ОФ), et al. Positron Annihilation Spectroscopy of Vacancy Type Defects in Submicrocrystalline Copper Under Annealing; AIP Conference Proceedings; Vol. 1783: Advanced Materials with Hierarchical Structure for New Technologies and Reliable Structures 2016. 2016, 2016. https://doi.org/10.1063/1.4966419.