The Effect of the Electronic Subsystem on the Deformation and Stress Localization in the Surface Layer of Solids

Dades bibliogràfiques
Parent link:AIP Conference Proceedings
Vol. 1783 : Advanced Materials with Hierarchical Structure for New Technologies and Reliable Structures 2016.— 2016.— [020086, 4 p.]
Autor principal: Khon Yu. A. Yury
Autor corporatiu: Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ) Физико-технический институт (ФТИ) Кафедра высшей математики и математической физики (ВММФ)
Altres autors: Kaminskii P. P. Petr, Moldovanova E. A. Evgeniya Aleksandrovna
Sumari:Title screen
The paper studies the influence of electron transitions between energy levels in a stressed solid on the morphological instability of the surface. The instability development leads to the localization of inelastic deformation and nucleation of stress concentrators in the surface layer of solids.
Режим доступа: по договору с организацией-держателем ресурса
Idioma:anglès
Publicat: 2016
Matèries:
Accés en línia:http://dx.doi.org/10.1063/1.4966379
Format: Electrònic Capítol de llibre
KOHA link:https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=652673

Ítems similars