The Effect of the Electronic Subsystem on the Deformation and Stress Localization in the Surface Layer of Solids

The Effect of the Electronic Subsystem on the Deformation and Stress Localization in the Surface Layer of Solids

Bibliographic Details
Parent link:AIP Conference Proceedings
Vol. 1783 : Advanced Materials with Hierarchical Structure for New Technologies and Reliable Structures 2016.— 2016.— [020086, 4 p.]
Main Author: Khon Yu. A. Yury
Corporate Author: Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ) Физико-технический институт (ФТИ) Кафедра высшей математики и математической физики (ВММФ)
Other Authors: Kaminskii P. P. Petr, Moldovanova E. A. Evgeniya Aleksandrovna
Summary:Title screen
The paper studies the influence of electron transitions between energy levels in a stressed solid on the morphological instability of the surface. The instability development leads to the localization of inelastic deformation and nucleation of stress concentrators in the surface layer of solids.
Режим доступа: по договору с организацией-держателем ресурса
Language:English
Published: 2016
Subjects:
электронный ресурс
труды учёных ТПУ
пластические сдвиги
микротрещины
квантовые эффекты
электронные подсистемы
деформирование
поверхностные слои
твердые тела
plastic shear
micro-crack
quantum effects
order parameters
nucleatio
Online Access:http://dx.doi.org/10.1063/1.4966379
Format: Electronic Book Chapter
KOHA link:https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=652673

Internet

http://dx.doi.org/10.1063/1.4966379

Similar Items