Позитронная аннигиляционная спектроскопия дефектов вакансионного типа в субмикрокристаллической меди при отжиге

Dettagli Bibliografici
Parent link:Перспективные материалы с иерархической структурой для новых технологий и надежных конструкций: тезисы докладов Международной конференции, 19-23 сентября 2016 г., Томск/ Российская академия наук (РАН), Сибирское отделение (СО), Институт физики прочности и материаловедения (ИФПМ). [С. 128-129].— , 2016
Ente Autore: Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ) Физико-технический институт (ФТИ) Кафедра общей физики (ОФ)
Altri autori: Кузнецов П. В. Павел Викторович, Лидер А. М. Андрей Маркович, Бордулёв Ю. С. Юрий Сергеевич, Лаптев Р. С. Роман Сергеевич, Миронов Ю. П., Рахматулина Т. В., Корзников А. В.
Riassunto:Заглавие с экрана
Lingua:russo
Pubblicazione: 2016
Serie:Научные основы разработки материалов с многоуровневой иерархической структурой, в том числе для экстремальных условий эксплуатации
Soggetti:
Accesso online:http://www.ispms.ru/files/Conference/2016/Sbornik_1.pdf#page=128
Natura: Elettronico Capitolo di libro
KOHA link:https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=651024

MARC

LEADER 00000nla2a2200000 4500
001 651024
005 20251028071619.0
035 |a (RuTPU)RU\TPU\network\16273 
035 |a RU\TPU\network\16271 
090 |a 651024 
100 |a 20161031d2016 k y0rusy50 ca 
101 0 |a rus 
102 |a RU 
105 |a a z 101zy 
135 |a drgn ---uucaa 
181 0 |a i  
182 0 |a b 
200 1 |a Позитронная аннигиляционная спектроскопия дефектов вакансионного типа в субмикрокристаллической меди при отжиге  |f П. В. Кузнецов [и др.] 
203 |a Текст  |c электронный 
225 1 |a Научные основы разработки материалов с многоуровневой иерархической структурой, в том числе для экстремальных условий эксплуатации 
300 |a Заглавие с экрана 
463 1 |0 (RuTPU)RU\TPU\network\16208  |t Перспективные материалы с иерархической структурой для новых технологий и надежных конструкций  |o тезисы докладов Международной конференции, 19-23 сентября 2016 г., Томск  |f Российская академия наук (РАН), Сибирское отделение (СО), Институт физики прочности и материаловедения (ИФПМ)  |v [С. 128-129]  |d 2016 
610 1 |a электронный ресурс 
610 1 |a труды учёных ТПУ 
610 1 |a позитронная спектроскопия 
610 1 |a спектроскопия 
610 1 |a дефекты 
610 1 |a медь 
610 1 |a отжиг 
610 1 |a субмикрокристаллическое состояние 
610 1 |a интенсивная пластическая деформация 
610 1 |a дислокации 
701 1 |a Кузнецов  |b П. В.  |c физик  |c доцент Томского политехнического университета, кандидат физико-математических наук  |f 1952-  |g Павел Викторович  |3 (RuTPU)RU\TPU\pers\34497  |9 17880 
701 1 |a Лидер  |b А. М.  |c физик  |c профессор Томского политехнического университета, доктор технических наук  |f 1976-2025  |g Андрей Маркович  |y Томск  |3 (RuTPU)RU\TPU\pers\25616  |9 11545 
701 1 |a Бордулёв  |b Ю. С.  |c физик  |c инженер Томского политехнического университета  |f 1990-  |g Юрий Сергеевич  |3 (RuTPU)RU\TPU\pers\29925 
701 1 |a Лаптев  |b Р. С.  |c физик, специалист в области неразрушающего контроля  |c доцент Томского политехнического университета, доктор технических наук  |f 1987-  |g Роман Сергеевич  |y Томск  |3 (RuTPU)RU\TPU\pers\29924  |9 14396 
701 1 |a Миронов  |b Ю. П. 
701 1 |a Рахматулина  |b Т. В. 
701 1 |a Корзников  |b А. В. 
712 0 2 |a Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ)  |b Физико-технический институт (ФТИ)  |b Кафедра общей физики (ОФ)  |3 (RuTPU)RU\TPU\col\18734 
801 1 |a RU  |b 63413507  |c 20101016 
801 2 |a RU  |b 63413507  |c 20161031  |g RCR 
856 4 |u http://www.ispms.ru/files/Conference/2016/Sbornik_1.pdf#page=128 
942 |c CF