Позитронная аннигиляционная спектроскопия дефектов вакансионного типа в субмикрокристаллической меди при отжиге; Перспективные материалы с иерархической структурой для новых технологий и надежных конструкций

Позитронная аннигиляционная спектроскопия дефектов вакансионного типа в субмикрокристаллической меди при отжиге; Перспективные материалы с иерархической структурой для новых технологий и надежных конструкций

Библиографические подробности
Источник:	Перспективные материалы с иерархической структурой для новых технологий и надежных конструкций.— 2016.— [С. 128-129]
Автор-организация:	Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ) Физико-технический институт (ФТИ) Кафедра общей физики (ОФ)
Другие авторы:	Кузнецов П. В. Павел Викторович, Лидер А. М. Андрей Маркович, Бордулёв Ю. С. Юрий Сергеевич, Лаптев Р. С. Роман Сергеевич, Миронов Ю. П., Рахматулина Т. В., Корзников А. В.
Примечания:	Заглавие с экрана
Язык:	русский
Опубликовано:	2016
Серии:	Научные основы разработки материалов с многоуровневой иерархической структурой, в том числе для экстремальных условий эксплуатации
Предметы:	электронный ресурс труды учёных ТПУ позитронная спектроскопия спектроскопия дефекты медь отжиг субмикрокристаллическое состояние интенсивная пластическая деформация дислокации
Online-ссылка:	http://www.ispms.ru/files/Conference/2016/Sbornik_1.pdf#page=128
Формат:	Электронный ресурс Статья
Запись в KOHA:	https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=651024

Internet

http://www.ispms.ru/files/Conference/2016/Sbornik_1.pdf#page=128