Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ) Физико-технический институт (ФТИ) Кафедра общей физики (ОФ), Кузнецов П. В. Павел Викторович, Лидер А. М. Андрей Маркович, Бордулёв Ю. С. Юрий Сергеевич, Лаптев Р. С. Роман Сергеевич, Миронов Ю. П., . . . Корзников А. В. (2016). Позитронная аннигиляционная спектроскопия дефектов вакансионного типа в субмикрокристаллической меди при отжиге; Перспективные материалы с иерархической структурой для новых технологий и надежных конструкций. 2016.
Cita Chicago (17th ed.)Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ) Физико-технический институт (ФТИ) Кафедра общей физики (ОФ), Кузнецов П. В. Павел Викторович, Лидер А. М. Андрей Маркович, Бордулёв Ю. С. Юрий Сергеевич, Лаптев Р. С. Роман Сергеевич, Миронов Ю. П., Рахматулина Т. В., i Корзников А. В. Позитронная аннигиляционная спектроскопия дефектов вакансионного типа в субмикрокристаллической меди при отжиге; Перспективные материалы с иерархической структурой для новых технологий и надежных конструкций. 2016, 2016.
Cita MLA (9th ed.)Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ) Физико-технический институт (ФТИ) Кафедра общей физики (ОФ), et al. Позитронная аннигиляционная спектроскопия дефектов вакансионного типа в субмикрокристаллической меди при отжиге; Перспективные материалы с иерархической структурой для новых технологий и надежных конструкций. 2016, 2016.