Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ) Физико-технический институт (ФТИ) Кафедра прикладной физики (№ 12) (ПФ) Международная научно-образовательная лаборатория "Рентгеновская оптика" (МНОЛ РО), Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ) Физико-технический институт (ФТИ) Кафедра высшей математики и математической физики (ВММФ), Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ) Физико-технический институт (ФТИ) Кафедра прикладной физики (№ 12) (ПФ), Gogolev A. S. Aleksey Sergeevich, Rezaev R. O. Roman Olegovich, Cherepennikov Yu. M. Yuriy Mihaylovich, . . . Gogoleva T. S. Tatiana Sergeevna. (2016). Estimation of the sensitivity in dual wave X-ray absorptiometry; Journal of Physics: Conference Series; Vol. 732 : Radiation from Relativistic Electrons in Periodic Structures (RREPS2015). 2016. https://doi.org/10.1088/1742-6596/732/1/012032
Citazione stile Chigago Style (17a edizione)Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ) Физико-технический институт (ФТИ) Кафедра прикладной физики (№ 12) (ПФ) Международная научно-образовательная лаборатория "Рентгеновская оптика" (МНОЛ РО), Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ) Физико-технический институт (ФТИ) Кафедра высшей математики и математической физики (ВММФ), Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ) Физико-технический институт (ФТИ) Кафедра прикладной физики (№ 12) (ПФ), Gogolev A. S. Aleksey Sergeevich, Rezaev R. O. Roman Olegovich, Cherepennikov Yu. M. Yuriy Mihaylovich, Vukolov A. V. Artem Vladimirovich, e Gogoleva T. S. Tatiana Sergeevna. Estimation of the Sensitivity in Dual Wave X-ray Absorptiometry; Journal of Physics: Conference Series; Vol. 732 : Radiation from Relativistic Electrons in Periodic Structures (RREPS2015). 2016, 2016. https://doi.org/10.1088/1742-6596/732/1/012032.
Citatione MLA (9a ed.)Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ) Физико-технический институт (ФТИ) Кафедра прикладной физики (№ 12) (ПФ) Международная научно-образовательная лаборатория "Рентгеновская оптика" (МНОЛ РО), et al. Estimation of the Sensitivity in Dual Wave X-ray Absorptiometry; Journal of Physics: Conference Series; Vol. 732 : Radiation from Relativistic Electrons in Periodic Structures (RREPS2015). 2016, 2016. https://doi.org/10.1088/1742-6596/732/1/012032.