APA (7th ed.) Citation

Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ) Физико-технический институт (ФТИ) Кафедра прикладной физики (№ 12) (ПФ) Международная научно-образовательная лаборатория "Рентгеновская оптика" (МНОЛ РО), Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ) Физико-технический институт (ФТИ) Кафедра высшей математики и математической физики (ВММФ), Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ) Физико-технический институт (ФТИ) Кафедра прикладной физики (№ 12) (ПФ), Gogolev A. S. Aleksey Sergeevich, Rezaev R. O. Roman Olegovich, Cherepennikov Yu. M. Yuriy Mihaylovich, . . . Gogoleva T. S. Tatiana Sergeevna. (2016). Estimation of the sensitivity in dual wave X-ray absorptiometry. 2016. https://doi.org/10.1088/1742-6596/732/1/012032

Chicago Style (17th ed.) Citation

Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ) Физико-технический институт (ФТИ) Кафедра прикладной физики (№ 12) (ПФ) Международная научно-образовательная лаборатория "Рентгеновская оптика" (МНОЛ РО), Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ) Физико-технический институт (ФТИ) Кафедра высшей математики и математической физики (ВММФ), Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ) Физико-технический институт (ФТИ) Кафедра прикладной физики (№ 12) (ПФ), Gogolev A. S. Aleksey Sergeevich, Rezaev R. O. Roman Olegovich, Cherepennikov Yu. M. Yuriy Mihaylovich, Vukolov A. V. Artem Vladimirovich, and Gogoleva T. S. Tatiana Sergeevna. Estimation of the Sensitivity in Dual Wave X-ray Absorptiometry. 2016, 2016. https://doi.org/10.1088/1742-6596/732/1/012032.

MLA (9th ed.) Citation

Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ) Физико-технический институт (ФТИ) Кафедра прикладной физики (№ 12) (ПФ) Международная научно-образовательная лаборатория "Рентгеновская оптика" (МНОЛ РО), et al. Estimation of the Sensitivity in Dual Wave X-ray Absorptiometry. 2016, 2016. https://doi.org/10.1088/1742-6596/732/1/012032.