Estimation of the sensitivity in dual wave X-ray absorptiometry

Bibliographic Details
Parent link:Journal of Physics: Conference Series
Vol. 732 : Radiation from Relativistic Electrons in Periodic Structures (RREPS2015).— 2016.— [012032, 6 p.]
Corporate Authors: Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ) Физико-технический институт (ФТИ) Кафедра прикладной физики (№ 12) (ПФ) Международная научно-образовательная лаборатория "Рентгеновская оптика" (МНОЛ РО), Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ) Физико-технический институт (ФТИ) Кафедра высшей математики и математической физики (ВММФ), Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ) Физико-технический институт (ФТИ) Кафедра прикладной физики (№ 12) (ПФ)
Other Authors: Gogolev A. S. Aleksey Sergeevich, Rezaev R. O. Roman Olegovich, Cherepennikov Yu. M. Yuriy Mihaylovich, Vukolov A. V. Artem Vladimirovich, Gogoleva T. S. Tatiana Sergeevna
Summary:Title screen
Dual wave X-ray absorptiometry is considered theoretically and the application of suggested technique extends to the multiphase flow analysis. Proposed method allows for specifying dynamically the percentage of fluid components with the resolution as high as 0.25% (according to the mathematical simulating). The accuracy of this measurement is one order higher by magnitude than that provided by the state of the art flow analyzing devices.
Published: 2016
Series:Monochromatic X- and Gamma Beams Produced at Electron Accelerators
Subjects:
Online Access:http://dx.doi.org/10.1088/1742-6596/732/1/012032
http://earchive.tpu.ru/handle/11683/33962
Format: Electronic Book Chapter
KOHA link:https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=650754