Национальный исследовательский Томский политехнический университет Институт неразрушающего контроля Проблемная научно-исследовательская лаборатория электроники, диэлектриков и полупроводников, Национальный исследовательский Томский политехнический университет Институт неразрушающего контроля Кафедра физических методов и приборов контроля качества, Surzhikov A. P. Anatoly Petrovich, Frangulyan Т. S. Tamara Semenovna, Gyngazov S. A. Sergey Anatolievich, & Vasiljev I. P. Ivan Petrovich. (2014). Еlectron microscopy studies of near-surface layers of ZRO2(Y)-AL2O3 composite ceramic modified by high-current beam of low-energy electrons; Inorganic Materials: Applied Research; Vol. 5, iss. 5. 2014. https://doi.org/10.1134/S2075113314050219
Style de citation Chicago (17e éd.)Национальный исследовательский Томский политехнический университет Институт неразрушающего контроля Проблемная научно-исследовательская лаборатория электроники, диэлектриков и полупроводников, Национальный исследовательский Томский политехнический университет Институт неразрушающего контроля Кафедра физических методов и приборов контроля качества, Surzhikov A. P. Anatoly Petrovich, Frangulyan Т. S. Tamara Semenovna, Gyngazov S. A. Sergey Anatolievich, et Vasiljev I. P. Ivan Petrovich. Еlectron Microscopy Studies of Near-surface Layers of ZRO2(Y)-AL2O3 Composite Ceramic Modified by High-current Beam of Low-energy Electrons; Inorganic Materials: Applied Research; Vol. 5, Iss. 5. 2014, 2014. https://doi.org/10.1134/S2075113314050219.
Style de citation MLA (9e éd.)Национальный исследовательский Томский политехнический университет Институт неразрушающего контроля Проблемная научно-исследовательская лаборатория электроники, диэлектриков и полупроводников, et al. Еlectron Microscopy Studies of Near-surface Layers of ZRO2(Y)-AL2O3 Composite Ceramic Modified by High-current Beam of Low-energy Electrons; Inorganic Materials: Applied Research; Vol. 5, Iss. 5. 2014, 2014. https://doi.org/10.1134/S2075113314050219.