Национальный исследовательский Томский политехнический университет Институт неразрушающего контроля Проблемная научно-исследовательская лаборатория электроники, диэлектриков и полупроводников, Национальный исследовательский Томский политехнический университет Институт неразрушающего контроля Кафедра физических методов и приборов контроля качества, Surzhikov A. P. Anatoly Petrovich, Frangulyan Т. S. Tamara Semenovna, Gyngazov S. A. Sergey Anatolievich, & Vasiljev I. P. Ivan Petrovich. (2014). Еlectron microscopy studies of near-surface layers of ZRO2(Y)-AL2O3 composite ceramic modified by high-current beam of low-energy electrons. 2014. https://doi.org/10.1134/S2075113314050219
Chicago Style (17th ed.) CitationНациональный исследовательский Томский политехнический университет Институт неразрушающего контроля Проблемная научно-исследовательская лаборатория электроники, диэлектриков и полупроводников, Национальный исследовательский Томский политехнический университет Институт неразрушающего контроля Кафедра физических методов и приборов контроля качества, Surzhikov A. P. Anatoly Petrovich, Frangulyan Т. S. Tamara Semenovna, Gyngazov S. A. Sergey Anatolievich, and Vasiljev I. P. Ivan Petrovich. Еlectron Microscopy Studies of Near-surface Layers of ZRO2(Y)-AL2O3 Composite Ceramic Modified by High-current Beam of Low-energy Electrons. 2014, 2014. https://doi.org/10.1134/S2075113314050219.
MLA (9th ed.) CitationНациональный исследовательский Томский политехнический университет Институт неразрушающего контроля Проблемная научно-исследовательская лаборатория электроники, диэлектриков и полупроводников, et al. Еlectron Microscopy Studies of Near-surface Layers of ZRO2(Y)-AL2O3 Composite Ceramic Modified by High-current Beam of Low-energy Electrons. 2014, 2014. https://doi.org/10.1134/S2075113314050219.