Влияние типовых дефектов на динамические характеристики микромеханического гироскопа LL-типа

Bibliographic Details
Parent link:Авиакосмическое приборостроение.— , 1999-
№ 4.— 2012.— [С. 3-9]
Main Author: Нестеренко Т. Г. Тамара Георгиевна
Corporate Author: Национальный исследовательский Томский политехнический университет Институт неразрушающего контроля Кафедра точного приборостроения
Other Authors: Пересветов М. В. Михаил Владимирович
Summary:Заглавие с экрана
В статье рассматривается влияние технологических дефектов на изменение собственных частот и амплитуд информативных колебаний микромеханического гироскопа. Методом конечно-элементного анализа определены параметры, оказывающие наибольшее влияние. Предложен способ стабилизации собственных частот колебаний чувствительного элемента.
The article describes the impact of technological defects on the eigenfrequencies and amplitudes changes of a micromechanical gyroscope information oscillations. The parameters with the greatest impact were determined by the method of finite-element analysis. A method for stabilizing the eigenfrequencies of a sensor was offered.
Режим доступа: по договору с организацией-держателем ресурса
Published: 2012
Subjects:
Online Access:http://elibrary.ru/item.asp?id=22786250
Format: Electronic Book Chapter
KOHA link:https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=649188