Национальный исследовательский Томский политехнический университет Институт неразрушающего контроля Кафедра физических методов и приборов контроля качества, Delimova L. A., Gushchina E. V., Yuferev V. S., Ratnikov V. V., Zaitseva N. V., . . . Sigov A. S. Aleksandr Sergeevich. (2016). Peculiarities of Electrical Characteristics of Ferroelectric Memory Elements Based on PZT-Films. 2016. https://doi.org/10.1007/s11182-016-0647-5
Chicagoスタイル(17版)引用形式Национальный исследовательский Томский политехнический университет Институт неразрушающего контроля Кафедра физических методов и приборов контроля качества, et al. Peculiarities of Electrical Characteristics of Ferroelectric Memory Elements Based on PZT-Films. 2016, 2016. https://doi.org/10.1007/s11182-016-0647-5.
MLA(9版)引用形式Национальный исследовательский Томский политехнический университет Институт неразрушающего контроля Кафедра физических методов и приборов контроля качества, et al. Peculiarities of Electrical Characteristics of Ferroelectric Memory Elements Based on PZT-Films. 2016, 2016. https://doi.org/10.1007/s11182-016-0647-5.