Влияние дефектов на туннельный ток в структурах w-GaN/AlGaN(0001)

Bibliographic Details
Parent link:	Нитриды галлия, индия и алюминия: структуры и приборы: тезисы докладов 6-ой Всероссийской конференции, 18-20 июня 2008 г., Санкт-Петербург/ Российская академия наук (РАН), Физико-технический институт им. А. Ф. Иоффе (ФТИ). [С. 196-197].— , 2008
Main Author:	Разжувалов А. Н. Александр Николаевич
Other Authors:	Гриняев С. Н. Сергей Николаевич
Summary:	Заглавие с экрана
Published:	2008
Subjects:	электронный ресурс труды учёных ТПУ
Online Access:	http://nitrides-conf.ioffe.ru/abstracts/III-N_2008.pdf#page=196
Format:	Electronic Book Chapter
KOHA link:	https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=648199

Internet