Наноструктурирование поверхности силумина эвтектоидного состава электронно-ионно-плазменными методами; Известия вузов. Физика; Т. 56, № 1-2

Bibliografske podrobnosti
Parent link:Известия вузов. Физика: научный журнал/ Национальный исследовательский Томский государственный университет (ТГУ).— , 1957-
Т. 56, № 1-2.— 2013.— [С. 98-102]
Korporativna značnica: Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ)
Drugi avtorji: Иванов Ю. Ф. Юрий Федорович, Петрикова Е. А., Тересов А. Д., Москвин П. В., Будовских Е. А., Коваль Н. Н. Николай Николаевич, Бибик Н. В., Черенда Н. Н. Николай Николаевич, Углов В. В. Владимир Васильевич
Izvleček:Заглавие с экрана
Методами электронной сканирующей и дифракционной просвечивающей микроскопии, рентгеноструктурного анализа, путем определения микротвердости и износостойкости проведены исследования состояния поверхностного слоя силумина эвтектоидного состава, подвергнутого обработке высокоинтенсивным электронным пучком и потоками плазмы. Выявлены режимы электронно-ионно-плазменной обработки, позволяющие формировать в поверхностном слое субмикро- и наноразмерную многофазную структуру, прочностные (микротвердость) характеристики которой кратно превышают соответствующие для исходного материала.
Режим доступа: по договору с организацией-держателем ресурса
Jezik:ruščina
Izdano: 2013
Teme:
Online dostop:http://elibrary.ru/item.asp?id=21635372
Format: MixedMaterials Elektronski Book Chapter
KOHA link:https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=647904

Podobne knjige/članki