Наноструктурирование поверхности силумина эвтектоидного состава электронно-ионно-плазменными методами; Известия вузов. Физика; Т. 56, № 1-2

Λεπτομέρειες βιβλιογραφικής εγγραφής
Parent link:Известия вузов. Физика: научный журнал/ Национальный исследовательский Томский государственный университет (ТГУ).— , 1957-
Т. 56, № 1-2.— 2013.— [С. 98-102]
Συγγραφή απο Οργανισμό/Αρχή: Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ)
Άλλοι συγγραφείς: Иванов Ю. Ф. Юрий Федорович, Петрикова Е. А., Тересов А. Д., Москвин П. В., Будовских Е. А., Коваль Н. Н. Николай Николаевич, Бибик Н. В., Черенда Н. Н. Николай Николаевич, Углов В. В. Владимир Васильевич
Περίληψη:Заглавие с экрана
Методами электронной сканирующей и дифракционной просвечивающей микроскопии, рентгеноструктурного анализа, путем определения микротвердости и износостойкости проведены исследования состояния поверхностного слоя силумина эвтектоидного состава, подвергнутого обработке высокоинтенсивным электронным пучком и потоками плазмы. Выявлены режимы электронно-ионно-плазменной обработки, позволяющие формировать в поверхностном слое субмикро- и наноразмерную многофазную структуру, прочностные (микротвердость) характеристики которой кратно превышают соответствующие для исходного материала.
Режим доступа: по договору с организацией-держателем ресурса
Γλώσσα:Ρωσικά
Έκδοση: 2013
Θέματα:
Διαθέσιμο Online:http://elibrary.ru/item.asp?id=21635372
Μορφή: Ηλεκτρονική πηγή Κεφάλαιο βιβλίου
KOHA link:https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=647904

Παρόμοια τεκμήρια