Наноструктурирование поверхности силумина эвтектоидного состава электронно-ионно-плазменными методами; Известия вузов. Физика; Т. 56, № 1-2

Bibliographische Detailangaben
Parent link:Известия вузов. Физика: научный журнал/ Национальный исследовательский Томский государственный университет (ТГУ).— , 1957-
Т. 56, № 1-2.— 2013.— [С. 98-102]
Körperschaft: Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ)
Weitere Verfasser: Иванов Ю. Ф. Юрий Федорович, Петрикова Е. А., Тересов А. Д., Москвин П. В., Будовских Е. А., Коваль Н. Н. Николай Николаевич, Бибик Н. В., Черенда Н. Н. Николай Николаевич, Углов В. В. Владимир Васильевич
Zusammenfassung:Заглавие с экрана
Методами электронной сканирующей и дифракционной просвечивающей микроскопии, рентгеноструктурного анализа, путем определения микротвердости и износостойкости проведены исследования состояния поверхностного слоя силумина эвтектоидного состава, подвергнутого обработке высокоинтенсивным электронным пучком и потоками плазмы. Выявлены режимы электронно-ионно-плазменной обработки, позволяющие формировать в поверхностном слое субмикро- и наноразмерную многофазную структуру, прочностные (микротвердость) характеристики которой кратно превышают соответствующие для исходного материала.
Режим доступа: по договору с организацией-держателем ресурса
Sprache:Russisch
Veröffentlicht: 2013
Schlagworte:
Online-Zugang:http://elibrary.ru/item.asp?id=21635372
Format: Elektronisch Buchkapitel
KOHA link:https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=647904

Ähnliche Einträge