Наноструктурирование поверхности силумина эвтектоидного состава электронно-ионно-плазменными методами

Bibliographic Details
Parent link:Известия вузов. Физика: научный журнал/ Национальный исследовательский Томский государственный университет (ТГУ).— , 1957-
Т. 56, № 1-2.— 2013.— [С. 98-102]
Corporate Author: Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ)
Other Authors: Иванов Ю. Ф. Юрий Федорович, Петрикова Е. А., Тересов А. Д., Москвин П. В., Будовских Е. А., Коваль Н. Н. Николай Николаевич, Бибик Н. В., Черенда Н. Н. Николай Николаевич, Углов В. В. Владимир Васильевич
Summary:Заглавие с экрана
Методами электронной сканирующей и дифракционной просвечивающей микроскопии, рентгеноструктурного анализа, путем определения микротвердости и износостойкости проведены исследования состояния поверхностного слоя силумина эвтектоидного состава, подвергнутого обработке высокоинтенсивным электронным пучком и потоками плазмы. Выявлены режимы электронно-ионно-плазменной обработки, позволяющие формировать в поверхностном слое субмикро- и наноразмерную многофазную структуру, прочностные (микротвердость) характеристики которой кратно превышают соответствующие для исходного материала.
Режим доступа: по договору с организацией-держателем ресурса
Language:Russian
Published: 2013
Subjects:
Online Access:http://elibrary.ru/item.asp?id=21635372
Format: Electronic Book Chapter
KOHA link:https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=647904