Статистическое прогнозирование для отбраковки потенциально ненадёжных изделий электронной техники

Статистическое прогнозирование для отбраковки потенциально ненадёжных изделий электронной техники

Bibliographic Details
Main Author:	Боровиков С. М.
Summary:	В монографии на основе обобщения и систематизации подходов, используемых для статистического прогнозирования надёжности изделий электронной техники, предложены и исследованы новые методы, позволяющие более эффективно отбраковывать из готовой продукции потенциально ненадёжные экземпляры и (или) выполнять отбор экземпляров повышенного уровня надёжности, а также прогнозировать надёжность выборок (партий) изделий по постепенным отказам. Для научных и инженерно-технических работников, преподавателей, аспирантов, магистрантов и студентов вузов. Табл.: 86. Ил. 83. Библиогр.: 218 назв. Книга из коллекции Новое знание - Инженерно-технические науки
Published:	Минск, Новое знание, 2013
Subjects:	надёжности изделий показатели надёжности безотказности иэт электрической нагрузки элементов электрического режима условий работы статистического прогнозирования эвристическое прогнозирование групповое прогнозирование индивидуальное прогнозирование экстраполяции параметра обучающих экспериментов информативных параметров использования имитационных воздействий систематизация методов информативные параметры‑признаки проблемные вопросы индивидуального прогнозирования метода пороговой логики алгоритмов построения погнозирующих правил логических таблиц метод мажоритарной логики пороговых уровней признаков информационный подход определения пороговых уровней признаков обучающий эксперимент методика экспериментальных исследований результаты обучающего эксперимента информативности параметров корреляционная матрица параметров-признаков построение прогнозирующего правила закономерности параметров-признаков эффективность алгоритмов мпл двоичные сигналы троичный код признаков эффект «вложенности» классов двух порогов постепенных отказов имитационных воздействий температура параметров электрического режима биполярных транзисторов статистическая аналогия функциональных параметров иэт экспериментальное подтверждение точка полупроводниковых приборов имитационных факторов прогнозирование функциональных параметров ток коллектора эффективность прогнозирования параметров интервальный прогноз сравнение результатов метод экстраполяции параметра методика прогнозирования актуальность разработки физико‑статистических моделей принципы прогнозирования параметрической надёжности деградации параметров экспериментальные исследования метода использование двухпараметрического экспоненциального распределения прогнозирование параметрической надёжности повышенного уровня методика отбора электронной техники пороговой логики подготовка проведение обучающего эксперимента обучение экзамен прогнозирование область применения определение ошибок практического применения просмотр
Online Access:	http://e.lanbook.com/books/element.php?pl1_id=64760 https://e.lanbook.com/img/cover/book/64760.jpg
Format:	Electronic Book

Internet

http://e.lanbook.com/books/element.php?pl1_id=64760
https://e.lanbook.com/img/cover/book/64760.jpg