Development of high resolution shearography device for non-destructive testing of composite materials; Перспективные материалы с иерархической структурой для новых технологий и надежных конструкций

Bibliografski detalji
Parent link:Перспективные материалы с иерархической структурой для новых технологий и надежных конструкций.— 2015.— [С. 498-499]
Autor kompanije: Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ) Институт физики высоких технологий (ИФВТ) Кафедра материаловедения в машиностроении (ММС)
Daljnji autori: Burkov M. V. Mikhail Vladimirovich, Lyubutin P. S. Pavel Stepanovich, Byakov A. V. Anton Viktorovich, Panin S. V. Sergey Viktorovich
Sažetak:Заглавие с экрана
Jezik:engleski
Izdano: 2015
Serija:Методы и средства неразрушающего контроля материалов и конструкций с иерархической структурой, включая сварные соединения
Teme:
Online pristup:http://www.ispms.ru/files/Conference/2015/tezis_2015.pdf#page=498
Format: Elektronički Poglavlje knjige
KOHA link:https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=646119