APA(7版)引用形式

Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ) Физико-технический институт (ФТИ) Кафедра общей физики (ОФ), Kuznetsov P. V. Pavel Viktorovich, Rakhmatulina T, Koznikov A, & Belyaeva I. (2015). Distribution Functions for Internal Interface Energy as a Characteristic of Submicrocrystalline Copper Structure Evolution under Low-Temperature Annealing. 2015. https://doi.org/10.1063/1.4932807

Chicagoスタイル(17版)引用形式

Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ) Физико-технический институт (ФТИ) Кафедра общей физики (ОФ), Kuznetsov P. V. Pavel Viktorovich, Rakhmatulina T, Koznikov A, , Belyaeva I. Distribution Functions for Internal Interface Energy as a Characteristic of Submicrocrystalline Copper Structure Evolution Under Low-Temperature Annealing. 2015, 2015. https://doi.org/10.1063/1.4932807.

MLA(9版)引用形式

Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ) Физико-технический институт (ФТИ) Кафедра общей физики (ОФ), et al. Distribution Functions for Internal Interface Energy as a Characteristic of Submicrocrystalline Copper Structure Evolution Under Low-Temperature Annealing. 2015, 2015. https://doi.org/10.1063/1.4932807.

警告: この引用は必ずしも正確ではありません.