Detecting unit for X-ray nondestructive testing systems; Control and Communications (SIBCON)

Podrobná bibliografie
Parent link:Control and Communications (SIBCON).— 2015.— [2 p.]
Hlavní autor: Nam I. F. Irina Feliksovna
Korporativní autor: Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ) Институт неразрушающего контроля (ИНК) Кафедра промышленной и медицинской электроники (ПМЭ)
Další autoři: Sakashev A. A. Amyr Aleksandrovich, Ryabkov S. A. Sergey Aleksandrovich
Shrnutí:Title screen
To provide an adequate X-ray detection efficiency is a real challenge to designers of digital radiographic systems for different applications, including medicine, biology, and nondestructive testing of materials and structural members. Analysis of the state-of-the art digital radiographic systems shows that the greatest body of information is obtained from imaging systems based on semiconductor X-ray detectors (Si, GaAs, Cd1-xZnxTe). Results of development of detecting unit for x-ray nondestructive testing systems are described in this paper.
Режим доступа: по договору с организацией-держателем ресурса
Jazyk:angličtina
Vydáno: 2015
Témata:
On-line přístup:http://dx.doi.org/10.1109/SIBCON.2015.7147306
Médium: Elektronický zdroj Kapitola
KOHA link:https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=643991

MARC

LEADER 00000naa0a2200000 4500
001 643991
005 20250606152248.0
035 |a (RuTPU)RU\TPU\network\9006 
090 |a 643991 
100 |a 20151021d2015 k||y0engy50 ba 
101 0 |a eng 
135 |a drcn ---uucaa 
181 0 |a i  
182 0 |a b 
200 1 |a Detecting unit for X-ray nondestructive testing systems  |f I. F. Nam, A. A. Sakashev, S. A. Ryabkov 
203 |a Text  |c electronic 
300 |a Title screen 
320 |a [References: 3 tit.] 
330 |a To provide an adequate X-ray detection efficiency is a real challenge to designers of digital radiographic systems for different applications, including medicine, biology, and nondestructive testing of materials and structural members. Analysis of the state-of-the art digital radiographic systems shows that the greatest body of information is obtained from imaging systems based on semiconductor X-ray detectors (Si, GaAs, Cd1-xZnxTe). Results of development of detecting unit for x-ray nondestructive testing systems are described in this paper. 
333 |a Режим доступа: по договору с организацией-держателем ресурса 
463 |t Control and Communications (SIBCON)  |o International Siberian Conference on Russia, Omsk, May 21-23, 2015  |v [2 p.]  |o [proceedings]  |d 2015 
610 1 |a электронный ресурс 
610 1 |a труды учёных ТПУ 
610 1 |a detecting unit 
610 1 |a X-Ray 
610 1 |a nondestructive testing 
700 1 |a Nam  |b I. F.  |c specialist in the field of electrophysics  |c Associate Professor of Tomsk Polytechnic University,candidate of technical sciences  |f 1981-  |g Irina Feliksovna  |3 (RuTPU)RU\TPU\pers\33676  |9 17307 
701 1 |a Sakashev  |b A. A.  |g Amyr Aleksandrovich 
701 1 |a Ryabkov  |b S. A.  |g Sergey Aleksandrovich 
712 0 2 |a Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ)  |b Институт неразрушающего контроля (ИНК)  |b Кафедра промышленной и медицинской электроники (ПМЭ)  |3 (RuTPU)RU\TPU\col\18719 
801 2 |a RU  |b 63413507  |c 20160229  |g RCR 
850 |a 63413507 
856 4 |u http://dx.doi.org/10.1109/SIBCON.2015.7147306 
942 |c CF