Research methods of reliability indicators of rectifier diode in tablet execution

Bibliographic Details
Parent link:European Physical Journal Web of Conferences (EPJ Web of Conferences)
Vol. 82 : Thermophysical Basis of Energy Technologies.— 2015.— [01030, 4 р.]
Main Author: Kurmangaliev R.
Corporate Author: Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ) Энергетический институт (ЭНИН) Кафедра автоматизации теплоэнергетических процессов (АТП)
Other Authors: Kravchenko E. V. Evgeny Vladimirovich
Summary:Title screen
A new forecast approach for the reliability of power semiconductor devices in cyclic operation on the basis of numerical analysis of nonuniform temperature fields is offered. We compared the failure rates of semiconductor power devices in real thermal regime with the thermal conductivity of the statistical data.
Published: 2015
Subjects:
Online Access:http://dx.doi.org/10.1051/epjconf/20158201030
Format: Electronic Book Chapter
KOHA link:https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=643108

MARC

LEADER 00000nla2a2200000 4500
001 643108
005 20240220133706.0
035 |a (RuTPU)RU\TPU\network\8096 
035 |a RU\TPU\network\8093 
090 |a 643108 
100 |a 20150831a2015 k y0engy50 ba 
101 0 |a eng 
102 |a FX 
105 |a y z 100zy 
135 |a drcn ---uucaa 
181 0 |a i  
182 0 |a b 
200 1 |a Research methods of reliability indicators of rectifier diode in tablet execution  |f R. Kurmangaliev, E. V. Kravchenko 
203 |a Text  |c electronic 
300 |a Title screen 
320 |a [References: 7 tit.] 
330 |a A new forecast approach for the reliability of power semiconductor devices in cyclic operation on the basis of numerical analysis of nonuniform temperature fields is offered. We compared the failure rates of semiconductor power devices in real thermal regime with the thermal conductivity of the statistical data. 
461 0 |0 (RuTPU)RU\TPU\network\7958  |t European Physical Journal Web of Conferences (EPJ Web of Conferences) 
463 0 |0 (RuTPU)RU\TPU\network\7960  |t Vol. 82 : Thermophysical Basis of Energy Technologies  |o Proceedings of the Conference, October 15-17, 2014, Tomsk, Russia  |f National Research Tomsk Polytechnic University (TPU) ; eds. G. V. Kuznetsov [et al.]  |v [01030, 4 р.]  |d 2015 
610 1 |a электронный ресурс 
610 1 |a труды учёных ТПУ 
610 1 |a надежность 
610 1 |a выпрямительные диоды 
610 1 |a циклические режимы 
610 1 |a тепловые режимы 
610 1 |a теплопроводность 
700 1 |a Kurmangaliev  |b R. 
701 1 |a Kravchenko  |b E. V.  |c specialist in the field of power engineering  |c Associate Professor of Tomsk Polytechnic University, Candidate of technical sciences  |f 1981-  |g Evgeny Vladimirovich  |3 (RuTPU)RU\TPU\pers\32852  |9 16700 
712 0 2 |a Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ)  |b Энергетический институт (ЭНИН)  |b Кафедра автоматизации теплоэнергетических процессов (АТП)  |3 (RuTPU)RU\TPU\col\18678 
801 2 |a RU  |b 63413507  |c 20150902  |g RCR 
856 4 |u http://dx.doi.org/10.1051/epjconf/20158201030 
942 |c CF