Позитронная спектроскопия дефектов в субмикрокристаллическом никеле после низкотемпературного отжига

Bibliografiset tiedot
Parent link:Физика твёрдого тела.— , 1975-
Т. 57, вып. 2.— 2015.— [С. 209-218]
Yhteisötekijä: Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ) Физико-технический институт (ФТИ) Кафедра общей физики (ОФ)
Muut tekijät: Кузнецов П. В. Павел Викторович, Миронов Ю. П., Толмачев А. И., Бордулёв Ю. С. Юрий Сергеевич, Лаптев Р. С. Роман Сергеевич, Лидер А. М. Андрей Маркович, Корзников А. В.
Yhteenveto:Заглавие с экрана
Путем измерения спектров времени жизни позитронов и доплеровского уширения аннигиляционной линии исследован отжиг дефектов в субмикрокристаллическом никеле, полученном методом равноканального углового прессования. Установлено, что в свежеприготовленных образцах позитроны захватываются дислокационными дефектами и вакансионными комплексами внутри кристаллитов. Размеры вакансионныхкомплексов уменьшаются с ростом температуры отжига в интервале DeltaT = 20−300◦C, однако после отжига при T = 360◦C они снова увеличиваются. Из спектров доплеровского уширения аннигиляционной линии был получен R-параметр, который не зависит от концентрации дефектов, а определяется только их типом. Обнаружено, что интервалам температур DeltaT = 20-180 и 180-360◦C соответствуют два значения R-параметра (R1, R2). Показано, что в интервале температур DeltaT = 20-180◦C преобладающими центрами захвата позитронов являются малоугловые границы, обогащенные примесями, а в интервале температур DeltaT = 180-360◦C — малоугловые границы.
Julkaistu: 2015
Aiheet:
Linkit:http://journals.ioffe.ru/ftt/2015/02/page-209.html.ru
Aineistotyyppi: Elektroninen Kirjan osa
KOHA link:https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=641046

Samankaltaisia teoksia