Позитронная спектроскопия дефектов в субмикрокристаллическом никеле после низкотемпературного отжига
| Parent link: | Физика твёрдого тела.— , 1975- Т. 57, вып. 2.— 2015.— [С. 209-218] |
|---|---|
| Corporate Author: | |
| Other Authors: | , , , , , , |
| Summary: | Заглавие с экрана Путем измерения спектров времени жизни позитронов и доплеровского уширения аннигиляционной линии исследован отжиг дефектов в субмикрокристаллическом никеле, полученном методом равноканального углового прессования. Установлено, что в свежеприготовленных образцах позитроны захватываются дислокационными дефектами и вакансионными комплексами внутри кристаллитов. Размеры вакансионныхкомплексов уменьшаются с ростом температуры отжига в интервале DeltaT = 20−300◦C, однако после отжига при T = 360◦C они снова увеличиваются. Из спектров доплеровского уширения аннигиляционной линии был получен R-параметр, который не зависит от концентрации дефектов, а определяется только их типом. Обнаружено, что интервалам температур DeltaT = 20-180 и 180-360◦C соответствуют два значения R-параметра (R1, R2). Показано, что в интервале температур DeltaT = 20-180◦C преобладающими центрами захвата позитронов являются малоугловые границы, обогащенные примесями, а в интервале температур DeltaT = 180-360◦C — малоугловые границы. |
| Published: |
2015
|
| Subjects: | |
| Online Access: | http://journals.ioffe.ru/ftt/2015/02/page-209.html.ru |
| Format: | Electronic Book Chapter |
| KOHA link: | https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=641046 |