Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ) Физико-технический институт (ФТИ) Кафедра общей физики (ОФ), Кузнецов П. В. Павел Викторович, Миронов Ю. П., Толмачев А. И., Бордулёв Ю. С. Юрий Сергеевич, Лаптев Р. С. Роман Сергеевич, . . . Корзников А. В. (2015). Позитронная спектроскопия дефектов в субмикрокристаллическом никеле после низкотемпературного отжига. 2015.
Citação do estilo Chicago (17ª ed.)Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ) Физико-технический институт (ФТИ) Кафедра общей физики (ОФ), Кузнецов П. В. Павел Викторович, Миронов Ю. П., Толмачев А. И., Бордулёв Ю. С. Юрий Сергеевич, Лаптев Р. С. Роман Сергеевич, Лидер А. М. Андрей Маркович, e Корзников А. В. Позитронная спектроскопия дефектов в субмикрокристаллическом никеле после низкотемпературного отжига. 2015, 2015.
Citação MLA (9ª ed.)Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ) Физико-технический институт (ФТИ) Кафедра общей физики (ОФ), et al. Позитронная спектроскопия дефектов в субмикрокристаллическом никеле после низкотемпературного отжига. 2015, 2015.