Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ) Физико-технический институт (ФТИ) Кафедра общей физики (ОФ), Кузнецов П. В. Павел Викторович, Миронов Ю. П., Толмачев А. И., Бордулёв Ю. С. Юрий Сергеевич, Лаптев Р. С. Роман Сергеевич, . . . Корзников А. В. (2015). Позитронная спектроскопия дефектов в субмикрокристаллическом никеле после низкотемпературного отжига. 2015.
Chicago Style (17th ed.) CitationНациональный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ) Физико-технический институт (ФТИ) Кафедра общей физики (ОФ), Кузнецов П. В. Павел Викторович, Миронов Ю. П., Толмачев А. И., Бордулёв Ю. С. Юрий Сергеевич, Лаптев Р. С. Роман Сергеевич, Лидер А. М. Андрей Маркович, and Корзников А. В. Позитронная спектроскопия дефектов в субмикрокристаллическом никеле после низкотемпературного отжига. 2015, 2015.
MLA (9th ed.) CitationНациональный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ) Физико-технический институт (ФТИ) Кафедра общей физики (ОФ), et al. Позитронная спектроскопия дефектов в субмикрокристаллическом никеле после низкотемпературного отжига. 2015, 2015.