Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ) Институт неразрушающего контроля (ИНК) Кафедра промышленной и медицинской электроники (ПМЭ), Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ) Физико-технический институт (ФТИ) Кафедра теоретической и экспериментальной физики (ТиЭФ), Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ) Физико-технический институт (ФТИ) Кафедра общей физики (ОФ), Arysheva G. V. Galina Vladislavovna, Ivanova N. M. Nina Mikhailovna, Konishchev M. E. Maksim Evgenievich, . . . Sypchenko V. S. Vladimir Sergeevich. (2015). Analysis of Magnetron-Deposited Titanium Oxynitride Coatings by Scanning Electron Microscopy and Raman Scattering. 2015. https://doi.org/10.4028/www.scientific.net/AMR.1084.3

Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ) Институт неразрушающего контроля (ИНК) Кафедра промышленной и медицинской электроники (ПМЭ), Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ) Физико-технический институт (ФТИ) Кафедра теоретической и экспериментальной физики (ТиЭФ), Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ) Физико-технический институт (ФТИ) Кафедра общей физики (ОФ), Arysheva G. V. Galina Vladislavovna, Ivanova N. M. Nina Mikhailovna, Konishchev M. E. Maksim Evgenievich, Pustovalova A. A. Alla Aleksandrovna, and Sypchenko V. S. Vladimir Sergeevich. Analysis of Magnetron-Deposited Titanium Oxynitride Coatings by Scanning Electron Microscopy and Raman Scattering. 2015, 2015. https://doi.org/10.4028/www.scientific.net/AMR.1084.3.

Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ) Институт неразрушающего контроля (ИНК) Кафедра промышленной и медицинской электроники (ПМЭ), et al. Analysis of Magnetron-Deposited Titanium Oxynitride Coatings by Scanning Electron Microscopy and Raman Scattering. 2015, 2015. https://doi.org/10.4028/www.scientific.net/AMR.1084.3.