|
|
|
|
| LEADER |
00000naa0a2200000 4500 |
| 001 |
640166 |
| 005 |
20250601154854.0 |
| 035 |
|
|
|a (RuTPU)RU\TPU\network\4696
|
| 090 |
|
|
|a 640166
|
| 100 |
|
|
|a 20150410d2014 k y0rusy50 ca
|
| 101 |
0 |
|
|a rus
|
| 102 |
|
|
|a RU
|
| 135 |
|
|
|a drgn ---uucaa
|
| 181 |
|
0 |
|a i
|
| 182 |
|
0 |
|a b
|
| 200 |
1 |
|
|a Применение метода вторично-ионной масс-спектрометрии для измерения диффузионных профилей в ионных кристаллах
|f А. В. Чернявский
|
| 203 |
|
|
|a Текст
|c электронный
|
| 300 |
|
|
|a Заглавие с титульного листа
|
| 320 |
|
|
|a [Библиогр.: с. 122 (7 назв.)]
|
| 461 |
|
|
|t Фундаментальные проблемырадиоэлектронного приборостроения (INTERMATIC - 2014)
|o материалы Международной научно-технической конференции, 1 - 5 декабря 2014 г., Москва
|f Московский государственный технический университет радиотехники, электроники и автоматики (МГТУ МИРЭА)
|d 2014
|
| 463 |
|
|
|t Ч. 1
|v [С. 199-122]
|d 2014
|
| 610 |
1 |
|
|a электронный ресурс
|
| 610 |
1 |
|
|a труды учёных ТПУ
|
| 700 |
|
1 |
|a Чернявский
|b А. В.
|c специалист в области электроники
|c старший научный сотрудник Томского политехнического университета, кандидат физико-математических наук
|f 1966-
|g Александр Викторович
|3 (RuTPU)RU\TPU\pers\26556
|
| 712 |
0 |
2 |
|a Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ)
|b Институт неразрушающего контроля (ИНК)
|b Проблемная научно-исследовательская лаборатория электроники, диэлектриков и полупроводников (ПНИЛ ЭДиП)
|3 (RuTPU)RU\TPU\col\19033
|
| 801 |
|
2 |
|a RU
|b 63413507
|c 20210629
|g RCR
|
| 850 |
|
|
|a 63413507
|
| 856 |
4 |
|
|u http://conf.mirea.ru/CD2014/pdf/p1/29.pdf
|
| 942 |
|
|
|c CF
|
