Применение метода вторично-ионной масс-спектрометрии для измерения диффузионных профилей в ионных кристаллах

Bibliographic Details
Parent link:	Фундаментальные проблемырадиоэлектронного приборостроения (INTERMATIC - 2014): материалы Международной научно-технической конференции, 1 - 5 декабря 2014 г., Москва/ Московский государственный технический университет радиотехники, электроники и автоматики (МГТУ МИРЭА).— , 2014 Ч. 1.— 2014.— [С. 199-122]
Main Author:	Чернявский А. В. Александр Викторович
Corporate Author:	Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ) Институт неразрушающего контроля (ИНК) Проблемная научно-исследовательская лаборатория электроники, диэлектриков и полупроводников (ПНИЛ ЭДиП)
Summary:	Заглавие с титульного листа
Published:	2014
Subjects:	электронный ресурс труды учёных ТПУ
Online Access:	http://conf.mirea.ru/CD2014/pdf/p1/29.pdf
Format:	Electronic Book Chapter
KOHA link:	https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=640166

Description
Summary:	Заглавие с титульного листа

Similar Items