Применение метода вторично-ионной масс-спектрометрии для измерения диффузионных профилей в ионных кристаллах; Фундаментальные проблемырадиоэлектронного приборостроения (INTERMATIC - 2014); Ч. 1

Bibliografiske detaljer
Parent link:	Фундаментальные проблемырадиоэлектронного приборостроения (INTERMATIC - 2014): материалы Международной научно-технической конференции, 1 - 5 декабря 2014 г., Москва/ Московский государственный технический университет радиотехники, электроники и автоматики (МГТУ МИРЭА).— , 2014 Ч. 1.— 2014.— [С. 199-122]
Hovedforfatter:	Чернявский А. В. Александр Викторович
Institution som forfatter:	Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ) Институт неразрушающего контроля (ИНК) Проблемная научно-исследовательская лаборатория электроники, диэлектриков и полупроводников (ПНИЛ ЭДиП)
Summary:	Заглавие с титульного листа
Sprog:	russisk
Udgivet:	2014
Fag:	электронный ресурс труды учёных ТПУ
Online adgang:	http://conf.mirea.ru/CD2014/pdf/p1/29.pdf
Format:	Electronisk Book Chapter
KOHA link:	https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=640166

Beskrivelse
Summary:	Заглавие с титульного листа

Lignende værker