Применение метода вторично-ионной масс-спектрометрии для измерения диффузионных профилей в ионных кристаллах; Фундаментальные проблемырадиоэлектронного приборостроения (INTERMATIC - 2014); Ч. 1

Применение метода вторично-ионной масс-спектрометрии для измерения диффузионных профилей в ионных кристаллах; Фундаментальные проблемырадиоэлектронного приборостроения (INTERMATIC - 2014); Ч. 1

Bibliographische Detailangaben
Parent link:Фундаментальные проблемырадиоэлектронного приборостроения (INTERMATIC - 2014): материалы Международной научно-технической конференции, 1 - 5 декабря 2014 г., Москва/ Московский государственный технический университет радиотехники, электроники и автоматики (МГТУ МИРЭА).— , 2014
Ч. 1.— 2014.— [С. 199-122]
1. Verfasser: Чернявский А. В. Александр Викторович
Körperschaft: Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ) Институт неразрушающего контроля (ИНК) Проблемная научно-исследовательская лаборатория электроники, диэлектриков и полупроводников (ПНИЛ ЭДиП)
Zusammenfassung:Заглавие с титульного листа
Sprache:Russisch
Veröffentlicht: 2014
Schlagworte:
электронный ресурс
труды учёных ТПУ
Online-Zugang:http://conf.mirea.ru/CD2014/pdf/p1/29.pdf
Format: Elektronisch Buchkapitel
KOHA link:https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=640166
Beschreibung
Zusammenfassung:Заглавие с титульного листа

Ähnliche Einträge