Чернявский А. В. Александр Викторович. (2014). Применение метода вторично-ионной масс-спектрометрии для измерения диффузионных профилей в ионных кристаллах; Фундаментальные проблемырадиоэлектронного приборостроения (INTERMATIC - 2014); Ч. 1. 2014.
Chicago Style (17th ed.) CitationЧернявский А. В. Александр Викторович. Применение метода вторично-ионной масс-спектрометрии для измерения диффузионных профилей в ионных кристаллах; Фундаментальные проблемырадиоэлектронного приборостроения (INTERMATIC - 2014); Ч. 1. 2014, 2014.
MLA (9th ed.) CitationЧернявский А. В. Александр Викторович. Применение метода вторично-ионной масс-спектрометрии для измерения диффузионных профилей в ионных кристаллах; Фундаментальные проблемырадиоэлектронного приборостроения (INTERMATIC - 2014); Ч. 1. 2014, 2014.