Анализ электрических характеристик датчика термоэлектрического дефектоскопа; Современные технологии, экономика и образование

Dades bibliogràfiques
Parent link:Современные технологии, экономика и образование.— 2019.— [С. 17-19]
Autor principal: Абуеллаиль А. А. С. А. Р. Ахмед Али Сабри Ахмед Рефаат
Autor corporatiu: Национальный исследовательский Томский политехнический университет Инженерная школа неразрушающего контроля и безопасности Отделение электронной инженерии
Altres autors: Солдатов Д. А., Солдатов А. А. Андрей Алексеевич
Sumari:Заглавие с титульного экрана
The article presents a method for calculating the equivalent source of thermal EMF for thermoelectric nondestructive testing devices. The calculation is based on the use of the source superposition method, which makes it possible to obtain the calculated ratios in an optimal way.
Idioma:rus
Publicat: 2019
Col·lecció:Измерительные системы и автоматизация систем управления
Matèries:
Accés en línia:http://earchive.tpu.ru/handle/11683/58183
Format: Electrònic Capítol de llibre
KOHA link:https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=630979

Ítems similars