Анализ электрических характеристик датчика термоэлектрического дефектоскопа; Современные технологии, экономика и образование

Détails bibliographiques
Parent link:Современные технологии, экономика и образование.— 2019.— [С. 17-19]
Auteur principal: Абуеллаиль А. А. С. А. Р. Ахмед Али Сабри Ахмед Рефаат
Collectivité auteur: Национальный исследовательский Томский политехнический университет Инженерная школа неразрушающего контроля и безопасности Отделение электронной инженерии
Autres auteurs: Солдатов Д. А., Солдатов А. А. Андрей Алексеевич
Résumé:Заглавие с титульного экрана
The article presents a method for calculating the equivalent source of thermal EMF for thermoelectric nondestructive testing devices. The calculation is based on the use of the source superposition method, which makes it possible to obtain the calculated ratios in an optimal way.
Langue:russe
Publié: 2019
Collection:Измерительные системы и автоматизация систем управления
Sujets:
Accès en ligne:http://earchive.tpu.ru/handle/11683/58183
Format: Électronique Chapitre de livre
KOHA link:https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=630979

Documents similaires