Анализ электрических характеристик датчика термоэлектрического дефектоскопа
| Parent link: | Современные технологии, экономика и образование: сборник трудов Всероссийской научно-методической конференции, г. Томск, 27-29 декабря 2019 г./ Национальный исследовательский Томский политехнический университет ; под ред. А. Г. Фефеловой, Е. А. Покровской, И. О. Болотиной [и др.]. [С. 17-19].— , 2019 |
|---|---|
| Glavni avtor: | |
| Drugi avtorji: | , |
| Izvleček: | Заглавие с титульного экрана The article presents a method for calculating the equivalent source of thermal EMF for thermoelectric nondestructive testing devices. The calculation is based on the use of the source superposition method, which makes it possible to obtain the calculated ratios in an optimal way. |
| Jezik: | ruščina |
| Izdano: |
2019
|
| Serija: | Измерительные системы и автоматизация систем управления |
| Teme: | |
| Online dostop: | http://earchive.tpu.ru/handle/11683/58183 |
| Format: | Elektronski Book Chapter |
| KOHA link: | https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=630979 |