Анализ электрических характеристик датчика термоэлектрического дефектоскопа; Современные технологии, экономика и образование

Bibliographische Detailangaben
Parent link:Современные технологии, экономика и образование.— 2019.— [С. 17-19]
1. Verfasser: Абуеллаиль А. А. С. А. Р. Ахмед Али Сабри Ахмед Рефаат
Körperschaft: Национальный исследовательский Томский политехнический университет Инженерная школа неразрушающего контроля и безопасности Отделение электронной инженерии
Weitere Verfasser: Солдатов Д. А., Солдатов А. А. Андрей Алексеевич
Zusammenfassung:Заглавие с титульного экрана
The article presents a method for calculating the equivalent source of thermal EMF for thermoelectric nondestructive testing devices. The calculation is based on the use of the source superposition method, which makes it possible to obtain the calculated ratios in an optimal way.
Sprache:Russisch
Veröffentlicht: 2019
Schriftenreihe:Измерительные системы и автоматизация систем управления
Schlagworte:
Online-Zugang:http://earchive.tpu.ru/handle/11683/58183
Format: Elektronisch Buchkapitel
KOHA link:https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=630979