Анализ электрических характеристик датчика термоэлектрического дефектоскопа

Bibliographic Details
Parent link:Современные технологии, экономика и образование: сборник трудов Всероссийской научно-методической конференции, г. Томск, 27-29 декабря 2019 г./ Национальный исследовательский Томский политехнический университет ; под ред. А. Г. Фефеловой, Е. А. Покровской, И. О. Болотиной [и др.]. [С. 17-19].— , 2019
Main Author: Абуеллаиль А. А. С. А. Р. Ахмед Али Сабри Ахмед Рефаат
Corporate Author: Национальный исследовательский Томский политехнический университет Инженерная школа неразрушающего контроля и безопасности Отделение электронной инженерии
Other Authors: Солдатов Д. А., Солдатов А. А. Андрей Алексеевич
Summary:Заглавие с титульного экрана
The article presents a method for calculating the equivalent source of thermal EMF for thermoelectric nondestructive testing devices. The calculation is based on the use of the source superposition method, which makes it possible to obtain the calculated ratios in an optimal way.
Published: 2019
Series:Измерительные системы и автоматизация систем управления
Subjects:
Online Access:http://earchive.tpu.ru/handle/11683/58183
Format: Electronic Book Chapter
KOHA link:https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=630979