Анализ электрических характеристик датчика термоэлектрического дефектоскопа; Современные технологии, экономика и образование

গ্রন্থ-পঞ্জীর বিবরন
Parent link:Современные технологии, экономика и образование.— 2019.— [С. 17-19]
প্রধান লেখক: Абуеллаиль А. А. С. А. Р. Ахмед Али Сабри Ахмед Рефаат
সংস্থা লেখক: Национальный исследовательский Томский политехнический университет Инженерная школа неразрушающего контроля и безопасности Отделение электронной инженерии
অন্যান্য লেখক: Солдатов Д. А., Солдатов А. А. Андрей Алексеевич
সংক্ষিপ্ত:Заглавие с титульного экрана
The article presents a method for calculating the equivalent source of thermal EMF for thermoelectric nondestructive testing devices. The calculation is based on the use of the source superposition method, which makes it possible to obtain the calculated ratios in an optimal way.
ভাষা:রুশ
প্রকাশিত: 2019
মালা:Измерительные системы и автоматизация систем управления
বিষয়গুলি:
অনলাইন ব্যবহার করুন:http://earchive.tpu.ru/handle/11683/58183
বিন্যাস: বৈদ্যুতিক গ্রন্থের অধ্যায়
KOHA link:https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=630979

MARC

LEADER 00000naa2a2200000 4500
001 630979
005 20240207134024.0
035 |a (RuTPU)RU\TPU\conf\32650 
035 |a RU\TPU\conf\32648 
090 |a 630979 
100 |a 20200417d2019 k y0rusy50 ca 
101 0 |a rus 
102 |a RU 
105 |a y z 101zy 
135 |a drgn ---uucaa 
181 0 |a i  
182 0 |a b 
200 1 |a Анализ электрических характеристик датчика термоэлектрического дефектоскопа  |d Analysis of the electrical characteristics of the thermoelectric flaw detector sensor  |f А. А. Абуллаель, Д. А. Солдатов, А. А. Солдатов 
203 |a Текст  |c электронный 
225 1 |a Измерительные системы и автоматизация систем управления 
300 |a Заглавие с титульного экрана 
320 |a [Библиогр.: с. 19 (3 назв.)] 
330 |a The article presents a method for calculating the equivalent source of thermal EMF for thermoelectric nondestructive testing devices. The calculation is based on the use of the source superposition method, which makes it possible to obtain the calculated ratios in an optimal way. 
463 1 |0 (RuTPU)RU\TPU\conf\32627  |t Современные технологии, экономика и образование  |o сборник трудов Всероссийской научно-методической конференции, г. Томск, 27-29 декабря 2019 г.  |f Национальный исследовательский Томский политехнический университет ; под ред. А. Г. Фефеловой, Е. А. Покровской, И. О. Болотиной [и др.]  |v [С. 17-19]  |d 2019 
510 1 |a Analysis of the electrical characteristics of the thermoelectric flaw detector sensor  |z eng 
610 1 |a электронный ресурс 
610 1 |a труды учёных ТПУ 
610 1 |a электрические характеристики 
610 1 |a датчики 
610 1 |a дефектоскопы 
610 1 |a термоэдс 
610 1 |a термоэлектрические устройства 
610 1 |a неразрушающий контроль 
610 1 |a экспресс-контроль 
610 1 |a металлы 
610 1 |a сплавы 
700 1 |a Абуеллаиль  |b А. А. С. А. Р.  |c специалист в области электроники  |c ассистент кафедры Томского политехнического университета  |f 1989-  |g Ахмед Али Сабри Ахмед Рефаат  |3 (RuTPU)RU\TPU\pers\46402 
701 1 |a Солдатов  |b Д. А. 
701 1 |a Солдатов  |b А. А.  |c специалист в области электроники  |c инженер, старший преподаватель Томского политехнического университета, кандидат технических наук  |f 1988-  |g Андрей Алексеевич  |3 (RuTPU)RU\TPU\pers\30586  |9 14880 
712 0 2 |a Национальный исследовательский Томский политехнический университет  |b Инженерная школа неразрушающего контроля и безопасности  |b Отделение электронной инженерии  |3 (RuTPU)RU\TPU\col\23507 
801 2 |a RU  |b 63413507  |c 20200429  |g RCR 
856 4 |u http://earchive.tpu.ru/handle/11683/58183 
942 |c BK