Measurement of Wide-Aperture X-ray Beam Trasverse Profile Based on Multiangular Wire Scanning

Measurement of Wide-Aperture X-ray Beam Trasverse Profile Based on Multiangular Wire Scanning

Bibliographic Details
Parent link:Radiation from Relativistic Electrons in Periodic Structures (RREPS-19): book of abstracts XIII International Symposium, September 15-20, 2019, Belgorod, Russian Federation/ National Research Tomsk Polytechnic University (TPU) ; Belgorod State University ; National Research Nuclear University "MEPhI". [P. 130].— , 2019
Corporate Authors: Национальный исследовательский Томский политехнический университет Исследовательская школа физики высокоэнергетических процессов, Национальный исследовательский Томский политехнический университет Инженерная школа ядерных технологий Отделение ядерно-топливного цикла
Other Authors: Stuchebrov S. G. Sergey Gennadevich, Bulavskaya A. A. Angelina Aleksandrovna, Cherepennikov Yu. M. Yuriy Mihaylovich, Miloichikova I. A. Irina Alekseevna
Summary:Title screen
Language:English
Published: 2019
Series:Applications of Monochromatic X-ray, [gamma]-ray
Subjects:
электронный ресурс
труды учёных ТПУ
профили
пучки
рентгеновские лучи
сканирование
плотность
потоки частиц
детекторы
фотоны
оптические волокна
рентгеновские трубки
фотоумножители
Online Access:http://earchive.tpu.ru/handle/11683/58028
Format: Electronic Book Chapter
KOHA link:https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=630971

Internet

http://earchive.tpu.ru/handle/11683/58028

Similar Items