Совершенствование методики контрольных испытаний комплектующих электрорадиоизделий; Информационные технологии (IT) в контроле, управлении качеством и безопасности

Detaylı Bibliyografya
Parent link:Информационные технологии (IT) в контроле, управлении качеством и безопасности.— 2019.— [С. 35-39]
Yazar: Бадрутдинова Д. Р. Дарья Рашидовна
Müşterek Yazar: Национальный исследовательский Томский политехнический университет Инженерная школа неразрушающего контроля и безопасности Отделение контроля и диагностики
Diğer Yazarlar: Вавилова Г. В. Галина Васильевна, Сергеев В. Я. Виктор Яковлевич
Özet:Заглавие с экрана
Статья посвящена разработке оптимальной методики отбраковочных испытаний оптоэлектронных транзисторов, которая позволит максимально снизить риск их отказа в приборе на финальных этапах изготовления прибора.
The article is devoted to the development of an optimal method for screening tests of optoelectronic transistors, which will minimize the risk of their failure in the device at the final stages of manufacturing the device.
Dil:Rusça
Baskı/Yayın Bilgisi: 2019
Konular:
Online Erişim:http://earchive.tpu.ru/handle/11683/57610
Materyal Türü: Elektronik Kitap Bölümü
KOHA link:https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=630771

Benzer Materyaller