Совершенствование методики контрольных испытаний комплектующих электрорадиоизделий

Xehetasun bibliografikoak
Parent link:Информационные технологии (IT) в контроле, управлении качеством и безопасности.— 2019.— [С. 35-39]
Egile nagusia: Бадрутдинова Д. Р. Дарья Рашидовна
Erakunde egilea: Национальный исследовательский Томский политехнический университет Инженерная школа неразрушающего контроля и безопасности Отделение контроля и диагностики
Beste egile batzuk: Вавилова Г. В. Галина Васильевна, Сергеев В. Я. Виктор Яковлевич
Gaia:Заглавие с экрана
Статья посвящена разработке оптимальной методики отбраковочных испытаний оптоэлектронных транзисторов, которая позволит максимально снизить риск их отказа в приборе на финальных этапах изготовления прибора.
The article is devoted to the development of an optimal method for screening tests of optoelectronic transistors, which will minimize the risk of their failure in the device at the final stages of manufacturing the device.
Hizkuntza:errusiera
Argitaratua: 2019
Gaiak:
Sarrera elektronikoa:http://earchive.tpu.ru/handle/11683/57610
Formatua: Baliabide elektronikoa Liburu kapitulua
KOHA link:https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=630771

Antzeko izenburuak