Совершенствование методики контрольных испытаний комплектующих электрорадиоизделий

Совершенствование методики контрольных испытаний комплектующих электрорадиоизделий

Bibliographic Details
Parent link:	Информационные технологии (IT) в контроле, управлении качеством и безопасности.— 2019.— [С. 35-39]
Main Author:	Бадрутдинова Д. Р. Дарья Рашидовна
Corporate Author:	Национальный исследовательский Томский политехнический университет Инженерная школа неразрушающего контроля и безопасности Отделение контроля и диагностики
Other Authors:	Вавилова Г. В. Галина Васильевна, Сергеев В. Я. Виктор Яковлевич
Summary:	Заглавие с экрана Статья посвящена разработке оптимальной методики отбраковочных испытаний оптоэлектронных транзисторов, которая позволит максимально снизить риск их отказа в приборе на финальных этапах изготовления прибора. The article is devoted to the development of an optimal method for screening tests of optoelectronic transistors, which will minimize the risk of their failure in the device at the final stages of manufacturing the device.
Language:	Russian
Published:	2019
Subjects:	электронный ресурс труды учёных ТПУ электрорадиоизделия отказы дефекты отбраковка оптоэлектронные трансформаторы контрольные испытания комплектующие изделия electrical equipment failure mechanism defect screening tests optoelectronic transistors
Online Access:	http://earchive.tpu.ru/handle/11683/57610
Format:	Electronic Book Chapter
KOHA link:	https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=630771

Internet

http://earchive.tpu.ru/handle/11683/57610