Исследование деградации эффективности сбора заряда алмазных детекторов; Высокие технологии в современной науке и технике (ВТСНТ-2017)

Chi tiết về thư mục
Parent link:	Высокие технологии в современной науке и технике (ВТСНТ-2017).— 2017.— [С. 86-87]
Tác giả chính:	Охотников В. В. Виталий Владимирович
Tác giả của công ty:	Томский политехнический университет Институт кибернетики, ИК
Tác giả khác:	Линник С. А. Степан Андреевич (научный руководитель), Гайдайчук А. В. Александр Валерьевич
Tóm tắt:	Заглавие с титульного экрана
Ngôn ngữ:	Tiếng Nga
Được phát hành:	2017
Loạt:	Технологии материалов новых поколений и наноматериалов
Những chủ đề:	электронные ресурсы труды учёных ТПУ алмазные детекторы радиационные повреждения ионизирующее излучение поликристаллические изделия облучение
Truy cập trực tuyến:	http://earchive.tpu.ru/handle/11683/45484
Định dạng:	Điện tử Chương của sách
KOHA link:	https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=625323

Miêu tả
Tóm tắt:	Заглавие с титульного экрана

Những quyển sách tương tự