Исследование деградации эффективности сбора заряда алмазных детекторов

Bibliographic Details
Parent link:	Высокие технологии в современной науке и технике (ВТСНТ-2017).— 2017.— [С. 86-87]
Main Author:	Охотников В. В. Виталий Владимирович
Corporate Author:	Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ) Институт кибернетики (ИК) Кафедра программной инженерии (ПИ)
Other Authors:	Линник С. А. Степан Андреевич (727), Гайдайчук А. В. Александр Валерьевич
Summary:	Заглавие с титульного экрана
Language:	Russian
Published:	2017
Series:	Технологии материалов новых поколений и наноматериалов
Subjects:	электронные ресурсы труды учёных ТПУ алмазные детекторы радиационные повреждения ионизирующее излучение поликристаллические изделия облучение
Online Access:	http://earchive.tpu.ru/handle/11683/45484
Format:	Electronic Book Chapter
KOHA link:	https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=625323

Internet