Применение вейвлетов в активном тепловом контроле; Информационно-измерительная техника и технологии

Detalhes bibliográficos
Parent link:Информационно-измерительная техника и технологии.— 2015.— [С. 149-154]
Autor principal: Ширяев В. В. Владимир Васильевич
Autor Corporativo: Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ) Институт неразрушающего контроля (ИНК) Кафедра физических методов и приборов контроля качества (ФМПК)
Outros Autores: Го Вэньцзя, Люй Цзинье
Resumo:Заглавие с титульного экрана
В данной работе показано, что возможно применение вейвлет-анализа для обработки последовательностей термограмм с целью повышения достоверности результатов контроля методами активного теплового неразрушающего контроля. Для вейвлет-анализа были использованы Гауссовы вейвлеты, например, вейвлет «мексиканская шляпа». Полученные после вейвлет-преобразования изображения являются очищенными от пространственных артефактов и пригодны для создания бинарных изображений дефектов, то есть, дефектных карт.
This paper shows the possibility of using wavelet analysis of the thermal image sequences for processing, in ord er to improve the reliability of the results of active thermal control method for nondestructive testing. For a Gaussian wavelet, such as wavelet "Mexican hat", the obtained images avoid space stru cture and and are suitable for creating binary image defects or defective images.
Idioma:russo
Publicado em: 2015
Assuntos:
Acesso em linha:http://earchive.tpu.ru/handle/11683/22261
http://www.lib.tpu.ru/fulltext/c/2015/C18/027.pdf
Formato: Recurso Eletrônico Capítulo de Livro
KOHA link:https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=617096

Registros relacionados