Применение вейвлетов в активном тепловом контроле

Bibliographic Details
Parent link:Информационно-измерительная техника и технологии: материалы VI научно-практической конференции, Томск, 27-30 мая 2015 г./ Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ) ; под ред. А. В. Юрченко. [С. 149-154].— , 2015
Main Author: Ширяев В. В. Владимир Васильевич
Corporate Author: Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ) Институт неразрушающего контроля (ИНК) Кафедра физических методов и приборов контроля качества (ФМПК)
Other Authors: Го Вэньцзя, Люй Цзинье
Summary:Заглавие с титульного экрана
В данной работе показано, что возможно применение вейвлет-анализа для обработки последовательностей термограмм с целью повышения достоверности результатов контроля методами активного теплового неразрушающего контроля. Для вейвлет-анализа были использованы Гауссовы вейвлеты, например, вейвлет «мексиканская шляпа». Полученные после вейвлет-преобразования изображения являются очищенными от пространственных артефактов и пригодны для создания бинарных изображений дефектов, то есть, дефектных карт.
This paper shows the possibility of using wavelet analysis of the thermal image sequences for processing, in ord er to improve the reliability of the results of active thermal control method for nondestructive testing. For a Gaussian wavelet, such as wavelet "Mexican hat", the obtained images avoid space stru cture and and are suitable for creating binary image defects or defective images.
Published: 2015
Subjects:
Online Access:http://earchive.tpu.ru/handle/11683/22261
http://www.lib.tpu.ru/fulltext/c/2015/C18/027.pdf
Format: Electronic Book Chapter
KOHA link:https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=617096