Применение вейвлетов в активном тепловом контроле; Информационно-измерительная техника и технологии
| Parent link: | Информационно-измерительная техника и технологии.— 2015.— [С. 149-154] |
|---|---|
| Autore principale: | |
| Ente Autore: | |
| Altri autori: | , |
| Riassunto: | Заглавие с титульного экрана В данной работе показано, что возможно применение вейвлет-анализа для обработки последовательностей термограмм с целью повышения достоверности результатов контроля методами активного теплового неразрушающего контроля. Для вейвлет-анализа были использованы Гауссовы вейвлеты, например, вейвлет «мексиканская шляпа». Полученные после вейвлет-преобразования изображения являются очищенными от пространственных артефактов и пригодны для создания бинарных изображений дефектов, то есть, дефектных карт. This paper shows the possibility of using wavelet analysis of the thermal image sequences for processing, in ord er to improve the reliability of the results of active thermal control method for nondestructive testing. For a Gaussian wavelet, such as wavelet "Mexican hat", the obtained images avoid space stru cture and and are suitable for creating binary image defects or defective images. |
| Lingua: | russo |
| Pubblicazione: |
2015
|
| Soggetti: | |
| Accesso online: | http://earchive.tpu.ru/handle/11683/22261 http://www.lib.tpu.ru/fulltext/c/2015/C18/027.pdf |
| Natura: | MixedMaterials Elettronico Capitolo di libro |
| KOHA link: | https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=617096 |
MARC
| LEADER | 00000naa2a2200000 4500 | ||
|---|---|---|---|
| 001 | 617096 | ||
| 005 | 20240117155302.0 | ||
| 035 | |a (RuTPU)RU\TPU\conf\15400 | ||
| 035 | |a RU\TPU\conf\15397 | ||
| 090 | |a 617096 | ||
| 100 | |a 20160212d2015 k y0rusy50 ca | ||
| 101 | 0 | |a rus | |
| 102 | |a RU | ||
| 105 | |a y z 101zy | ||
| 135 | |a drcn ---uucaa | ||
| 181 | 0 | |a i | |
| 182 | 0 | |a b | |
| 200 | 1 | |a Применение вейвлетов в активном тепловом контроле |d Application of wavelets in the active thermal inspection |f В. В. Ширяев, Го Вэньцзя, Люй Цзинье | |
| 203 | |a Текст |c электронный | ||
| 300 | |a Заглавие с титульного экрана | ||
| 320 | |a [Библиогр.: с. 154 (3 назв.)] | ||
| 330 | |a В данной работе показано, что возможно применение вейвлет-анализа для обработки последовательностей термограмм с целью повышения достоверности результатов контроля методами активного теплового неразрушающего контроля. Для вейвлет-анализа были использованы Гауссовы вейвлеты, например, вейвлет «мексиканская шляпа». Полученные после вейвлет-преобразования изображения являются очищенными от пространственных артефактов и пригодны для создания бинарных изображений дефектов, то есть, дефектных карт. | ||
| 330 | |a This paper shows the possibility of using wavelet analysis of the thermal image sequences for processing, in ord er to improve the reliability of the results of active thermal control method for nondestructive testing. For a Gaussian wavelet, such as wavelet "Mexican hat", the obtained images avoid space stru cture and and are suitable for creating binary image defects or defective images. | ||
| 337 | |a Adobe Reader | ||
| 463 | 0 | |0 (RuTPU)RU\TPU\conf\15333 |t Информационно-измерительная техника и технологии |o материалы VI научно-практической конференции, Томск, 27-30 мая 2015 г. |f Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ) ; под ред. А. В. Юрченко |v [С. 149-154] |d 2015 | |
| 510 | 1 | |a Application of wavelets in the active thermal inspection |z eng | |
| 610 | 1 | |a труды учёных ТПУ | |
| 610 | 1 | |a электронный ресурс | |
| 610 | 1 | |a вейвлеты | |
| 610 | 1 | |a тепловой контроль | |
| 610 | 1 | |a вейвлет-анализ | |
| 610 | 1 | |a тепловой неразрушающий контроль | |
| 610 | 1 | |a вейвлет-преобразования | |
| 610 | 1 | |a бинарные изображения | |
| 610 | 1 | |a дефекты | |
| 610 | 1 | |a стеклопластики | |
| 700 | 1 | |a Ширяев |b В. В. |c специалист в области неразрушающего контроля |c старший научный сотрудник Томского политехнического университета, кандидат технических наук |f 1948- |g Владимир Васильевич |3 (RuTPU)RU\TPU\pers\28002 |9 12991 | |
| 701 | 0 | |a Го Вэньцзя | |
| 701 | 0 | |a Люй Цзинье | |
| 712 | 0 | 2 | |a Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ) |b Институт неразрушающего контроля (ИНК) |b Кафедра физических методов и приборов контроля качества (ФМПК) |3 (RuTPU)RU\TPU\col\18709 |
| 801 | 2 | |a RU |b 63413507 |c 20210119 |g RCR | |
| 856 | 4 | |u http://earchive.tpu.ru/handle/11683/22261 | |
| 856 | 4 | |u http://www.lib.tpu.ru/fulltext/c/2015/C18/027.pdf | |
| 942 | |c BK | ||