Применение вейвлетов в активном тепловом контроле; Информационно-измерительная техника и технологии
| Parent link: | Информационно-измерительная техника и технологии.— 2015.— [С. 149-154] |
|---|---|
| Yazar: | |
| Müşterek Yazar: | |
| Diğer Yazarlar: | , |
| Özet: | Заглавие с титульного экрана В данной работе показано, что возможно применение вейвлет-анализа для обработки последовательностей термограмм с целью повышения достоверности результатов контроля методами активного теплового неразрушающего контроля. Для вейвлет-анализа были использованы Гауссовы вейвлеты, например, вейвлет «мексиканская шляпа». Полученные после вейвлет-преобразования изображения являются очищенными от пространственных артефактов и пригодны для создания бинарных изображений дефектов, то есть, дефектных карт. This paper shows the possibility of using wavelet analysis of the thermal image sequences for processing, in ord er to improve the reliability of the results of active thermal control method for nondestructive testing. For a Gaussian wavelet, such as wavelet "Mexican hat", the obtained images avoid space stru cture and and are suitable for creating binary image defects or defective images. |
| Dil: | Rusça |
| Baskı/Yayın Bilgisi: |
2015
|
| Konular: | |
| Online Erişim: | http://earchive.tpu.ru/handle/11683/22261 http://www.lib.tpu.ru/fulltext/c/2015/C18/027.pdf |
| Materyal Türü: | Elektronik Kitap Bölümü |
| KOHA link: | https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=617096 |
| Özet: | Заглавие с титульного экрана В данной работе показано, что возможно применение вейвлет-анализа для обработки последовательностей термограмм с целью повышения достоверности результатов контроля методами активного теплового неразрушающего контроля. Для вейвлет-анализа были использованы Гауссовы вейвлеты, например, вейвлет «мексиканская шляпа». Полученные после вейвлет-преобразования изображения являются очищенными от пространственных артефактов и пригодны для создания бинарных изображений дефектов, то есть, дефектных карт. This paper shows the possibility of using wavelet analysis of the thermal image sequences for processing, in ord er to improve the reliability of the results of active thermal control method for nondestructive testing. For a Gaussian wavelet, such as wavelet "Mexican hat", the obtained images avoid space stru cture and and are suitable for creating binary image defects or defective images. |
|---|