High performance microprocessor system for eddy current defectoscope measurement signal processing; Информационно-измерительная техника и технологии

מידע ביבליוגרפי
Parent link:Информационно-измерительная техника и технологии.— 2014.— [P. 220-223]
מחבר ראשי: Purgin A.
מחבר תאגידי: Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ) Институт неразрушающего контроля (ИНК) Кафедра физических методов и приборов контроля качества (ФМПК)
מחברים אחרים: Yakimov E. V. Evgeny Valeryevich (научный руководитель)
סיכום:Заглавие с экрана
This article shows principles of development of the eddy current defectoscope data acquisition system. It describes goals of development of this system and main requirements for its characteristics. Also on basis of these requirements possible implementation of the device was suggested.
שפה:אנגלית
יצא לאור: 2014
נושאים:
גישה מקוונת:http://earchive.tpu.ru/handle/11683/23367
http://www.lib.tpu.ru/fulltext/c/2014/C18/038.pdf
פורמט: אלקטרוני Book Chapter
KOHA link:https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=613953

פריטים דומים