High performance microprocessor system for eddy current defectoscope measurement signal processing; Информационно-измерительная техника и технологии

Bibliografische gegevens
Parent link:Информационно-измерительная техника и технологии.— 2014.— [P. 220-223]
Hoofdauteur: Purgin A.
Coauteur: Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ) Институт неразрушающего контроля (ИНК) Кафедра физических методов и приборов контроля качества (ФМПК)
Andere auteurs: Yakimov E. V. Evgeny Valeryevich (научный руководитель)
Samenvatting:Заглавие с экрана
This article shows principles of development of the eddy current defectoscope data acquisition system. It describes goals of development of this system and main requirements for its characteristics. Also on basis of these requirements possible implementation of the device was suggested.
Taal:Engels
Gepubliceerd in: 2014
Onderwerpen:
Online toegang:http://earchive.tpu.ru/handle/11683/23367
http://www.lib.tpu.ru/fulltext/c/2014/C18/038.pdf
Formaat: Elektronisch Hoofdstuk
KOHA link:https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=613953

Gelijkaardige items