High performance microprocessor system for eddy current defectoscope measurement signal processing; Информационно-измерительная техника и технологии

গ্রন্থ-পঞ্জীর বিবরন
Parent link:Информационно-измерительная техника и технологии.— 2014.— [P. 220-223]
প্রধান লেখক: Purgin A.
সংস্থা লেখক: Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ) Институт неразрушающего контроля (ИНК) Кафедра физических методов и приборов контроля качества (ФМПК)
অন্যান্য লেখক: Yakimov E. V. Evgeny Valeryevich (научный руководитель)
সংক্ষিপ্ত:Заглавие с экрана
This article shows principles of development of the eddy current defectoscope data acquisition system. It describes goals of development of this system and main requirements for its characteristics. Also on basis of these requirements possible implementation of the device was suggested.
ভাষা:ইংরেজি
প্রকাশিত: 2014
বিষয়গুলি:
অনলাইন ব্যবহার করুন:http://earchive.tpu.ru/handle/11683/23367
http://www.lib.tpu.ru/fulltext/c/2014/C18/038.pdf
বিন্যাস: বৈদ্যুতিক গ্রন্থের অধ্যায়
KOHA link:https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=613953

অনুরূপ উপাদানগুলি