High performance microprocessor system for eddy current defectoscope measurement signal processing; Информационно-измерительная техника и технологии

Библиографические подробности
Источник:Информационно-измерительная техника и технологии.— 2014.— [P. 220-223]
Главный автор: Purgin A.
Автор-организация: Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ) Институт неразрушающего контроля (ИНК) Кафедра физических методов и приборов контроля качества (ФМПК)
Другие авторы: Yakimov E. V. Evgeny Valeryevich (научный руководитель)
Примечания:Заглавие с экрана
This article shows principles of development of the eddy current defectoscope data acquisition system. It describes goals of development of this system and main requirements for its characteristics. Also on basis of these requirements possible implementation of the device was suggested.
Язык:английский
Опубликовано: 2014
Предметы:
Online-ссылка:http://earchive.tpu.ru/handle/11683/23367
http://www.lib.tpu.ru/fulltext/c/2014/C18/038.pdf
Формат: Электронный ресурс Статья
Запись в KOHA:https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=613953